LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡是結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡(LSM)以及掃描探針顯微鏡(SPM)功能為一體的革新機(jī)，從而可以實(shí)現(xiàn)對(duì)觀測對(duì)象從幾十倍到百萬倍的連續(xù)放大, 可以滿足不同樣品的超高分辨率三維觀察，以及尺寸測量、微粗糙度測量等各種觀測需求。

通過在多種顯微鏡和觀察模式間自由切換，LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡可以輕松實(shí)現(xiàn)從毫米到納米的超大范圍觀察和測量，這使得觀察對(duì)象的定位變得精準(zhǔn)快捷，在大大縮短了獲取影像時(shí)間的同時(shí)保護(hù)了探針，并且不用擔(dān)心觀測目標(biāo)的丟失。另外，這種一體的革新設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)同一對(duì)象的多手段原位觀測，從而提高了對(duì)觀測結(jié)果分析解釋的準(zhǔn)確性和可信度！

l        光學(xué)顯微鏡：

裝有倍率不同的四種物鏡，集合了明視野觀察（BF）、微分干涉觀察（DIC）、簡易偏振光觀察及HDR（高動(dòng)態(tài)范圍）觀察等多種功能。

l        激光顯微鏡：

采用短波長405nm的激光光源和高數(shù)值孔徑的專用物鏡、以及獨(dú)特的共焦光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了優(yōu)異的平面分辨率。在激光微分干涉模式中還可以實(shí)現(xiàn)觀察納米級(jí)的微小凹凸。

l        掃描探針顯微鏡：

專業(yè)的針尖對(duì)齊夾具避免了在儀器上調(diào)節(jié)激光光斑位置的繁瑣；

搭載導(dǎo)航功能，可以在已掃圖像中任意制定特定區(qū)域進(jìn)一步掃描觀測；

多種觀察模式滿足對(duì)樣品表面形貌和物性的觀察分析。