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產(chǎn)品屬性

共 35 件相關(guān)產(chǎn)品

所在地區(qū)
所有企業(yè)性質(zhì)
共找到35條 產(chǎn)品信息
激光橢偏儀
￥電議
更新時間：2024-12-10
深圳市藍星宇電子科技有限公司

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12成長值

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(91+  )優(yōu)質(zhì)信譽積累，可持續(xù)信賴

第 6 年
所在地: 廣東 深圳市
激光橢偏儀se 400adv pv se 400adv pv是全球化使用的標準儀器，用于測量pv單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的sinx 防反射單層膜的性能。該儀器用于sinx涂層和薄鈍化層sio2和al2o3的質(zhì)量控制。
HORIBA Smart SE智能型多功能橢偏儀
￥電議
更新時間：2024-12-10
深圳市科時達電子科技有限公司

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6成長值

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第 3 年
所在地: 廣東 深圳市
多功能性設(shè)計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，精確表征和分析的工具。
三維掃描儀,光學(xué)抄數(shù)機,白光掃描儀廠家直銷
￥電議
更新時間：2024-9-13
深圳市鑫瑞測量儀器有限公司

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4成長值

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第 2 年
所在地: 其他 其他
三維掃描儀又名光學(xué)抄數(shù)機，它采用光電投射單元將結(jié)構(gòu)光面光投射在物體表面,結(jié)合計算機視覺技術(shù)、光電傳感技術(shù)、圖象處理技術(shù)、以及軟件控制等實現(xiàn)對物體面形一次性快速測量,采用旋轉(zhuǎn)物體或者掃描頭,變換掃描視角,基于多視角點云標記點的自動拼接技術(shù),可完成物體全方位360度掃描.
SEMILAB-全光譜橢偏儀GES5E
￥電議
更新時間：2024-8-26
北京亞科晨旭科技有限公司

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8成長值

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第 4 年
所在地: 其他 其他
semilab擁有全球zui優(yōu)秀的電學(xué)和光學(xué)表征技術(shù)，產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于光伏、半導(dǎo)體、科研以及平板測試領(lǐng)域。憑借先進的測試設(shè)備，為客戶的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控提供一套完整的測試方案，在行業(yè)中始終處于領(lǐng)xian地位。
光譜橢偏儀
￥電議
更新時間：2024-8-14
深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司

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第 3 年
所在地: 國外 國外
unecs系列是可以高速、高精度測量薄膜膜厚和折射率的分光橢偏儀。采用的測量方式，實現(xiàn)了高速測量和機體的小型化。我們的產(chǎn)品陣容包括便攜式，自動式和對應(yīng)真空環(huán)境的設(shè)備內(nèi)置式類型。
12333-11-8 偏鎢酸銨水合物
￥電議
更新時間：2023-10-12
第 0 年
所在地: 其他 其他
偏鎢酸銨水合物英文名稱：ammonium metatungstate hydratecas：12333-11-8單位：瓶貨期：2-3天偏鎢酸銨水合物100g    560
全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀
￥電議
更新時間：2023-8-23
第 0 年
所在地: 其他 其他
產(chǎn)品簡介：me-l是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等�？蓱�(yīng)用于半導(dǎo)體薄膜結(jié)構(gòu)，半導(dǎo)體周期性納米結(jié)構(gòu)，新材料，新物理現(xiàn)象研究，平板顯示，光伏太陽能，功能性涂料，生物和化學(xué)工程，塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。雙旋轉(zhuǎn)補償器(drc)配置一次測量全部穆勒矩陣16個元素；配置自動變角器、五維樣件控制平臺等優(yōu)質(zhì)硬件模塊，軟件交互式界面配合輔助向?qū)皆O(shè)計，易上手、操作便捷；豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力。
Photonic-Lattice全檢膜厚Mapping橢偏儀
￥電議
更新時間：2023-1-3
第 0 年
所在地: 北京 北京市
日本photonic lattic 通過以自研的偏振傳感器為核心的新一代全檢膜厚mapping橢偏儀，可以做到1000點/分鐘，6寸產(chǎn)品快可以在3分鐘內(nèi)完成，不僅如此，me-210-t針對透明基板也可測量。
G8390-25 Solarbio 偏釩酸鈉 常用鹽
￥電議
更新時間：2022-5-1
第 0 年
所在地: 其他 其他
solarbio 偏釩酸鈉 常用鹽別名：釩酸鈉；sodium vanadate(v)。分子式：navo3分子量：121.93cas＃：13718-26-8外觀：白色結(jié)晶或淺黃色結(jié)晶性粉末特性：溶解性：
加拿大2.0QQ群-橢偏儀
￥12600.00
更新時間：2020-9-27
第 0 年
所在地: 其他 其他
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加拿大2.0QQ群-橢偏儀
￥13580.00
更新時間：2020-9-17
第 0 年
所在地: 其他 其他
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上海到武義物流公司直達→
￥400.00
更新時間：2020-7-5
第 0 年
所在地: 上海 上海
上海到武義物流公司專線直達→ 安全快捷的物流公司！xx，我們給您的一定是的服務(wù)==整車零擔===專線直達===如需發(fā)貨==敬請來電！l聯(lián)系（400-697-cc譚經(jīng)理）
海洋光學(xué)橢偏儀
￥電議
更新時間：2020-6-15
第 0 年
所在地: 其他 其他
specel-2000是一款操作便捷的臺式光譜橢偏儀，主要用于測量平整和半透明的樣品，例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜。 橢圓偏光技術(shù)是一種非接觸式、非破壞性，以光學(xué)技術(shù)測量表面薄膜特性的方法。其檢測原理是：當一束偏振光經(jīng)過物體表面或界面時，其偏振極化狀態(tài)會被改變。而橢偏儀就是通過探測樣品表面的反射光，來測量此改變（即反射光和入射光的振幅及相位的改變量），以決定表面特性薄膜的光學(xué)常數(shù)（n、k值）及膜厚。 specel-2000測試系統(tǒng)主要包括：寬帶光源、高性能線陣ccd光譜儀、導(dǎo)光器件、起偏器、樣品測試臺、檢偏器、光學(xué)增強元件及測量分析軟件。 specel-2000適合于探測薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)特性，通常應(yīng)用于有薄膜存在的地方，其應(yīng)用
HORIBA UVISEL研究級經(jīng)典型橢偏儀
￥電議
更新時間：2020-5-26
第 0 年
所在地: 其他 其他
器簡介： 20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結(jié)晶,是一款高準確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機型。即使在透明的基底上也能對超薄膜進行最精確的測量。采用pem相位調(diào)制技術(shù)，與機械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比,能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。
光子晶體探測器型橢偏儀
￥電議
更新時間：2020-5-21
第 0 年
所在地: 其他 其他
這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本photonic lattice公司首創(chuàng)，并應(yīng)用到橢偏儀的測試中。日本photonic lattice公司在光子晶體的研究和制造領(lǐng)域領(lǐng)先世界，由此開發(fā)出的光子晶體探測器型橢偏儀具有測試速度快、測量準確、免維護、價格低廉等特點已經(jīng)在光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體薄膜、有機薄膜等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。該橢偏儀可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。
EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）
￥電議
更新時間：2020-5-18
第 0 年
所在地: 其他 其他
em12-pv用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。
橢偏儀
￥電議
更新時間：2019-5-29
第 0 年
所在地: 其他 其他
specel-2000是一款操作便捷的臺式光譜橢偏儀，主要用于測量平整和半透明的樣品，例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜。
Lenord+Bauer編碼原件
￥666.00
更新時間：2019-3-28
第 0 年
所在地: 北京 北京市
穗鋮（廈門）科技有限公司設(shè)立于廈門經(jīng)濟特區(qū)，專注于為客戶提供德國及歐美地區(qū)原產(chǎn)的各類工控機電設(shè)備、儀器儀表、零配件。確保100%原廠全新正品。產(chǎn)品覆蓋：工業(yè)設(shè)備、儀器儀表、過程控制、電機傳動、低壓電器、液壓、工具、傳感器、控制類產(chǎn)品的企業(yè)，產(chǎn)品應(yīng)用廣泛。
供應(yīng)橢偏儀/上海/蘇州/無錫/南京/天津/北京/武漢/西安
￥電議
更新時間：2018-7-26
第 0 年
所在地: 江蘇 蘇州市
fft-在應(yīng)用分析上，可除了橢圓儀原本的回歸分析，還增加了傅利葉的分析方式，可針對不同的材料與厚度使用，user使用上更為便利與快速.
橢偏儀0820
￥電議
更新時間：2013-8-20
第 0 年
所在地: 廣東 云浮市
在光譜橢偏儀的測量中使用不同的硬件配置，但每種配置都必須能產(chǎn)生已知偏振態(tài)的光束。測量由被測樣品反射后光的偏振態(tài)。這要求儀器能夠量化偏振態(tài)的變化量ρ。
EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀
￥電議
更新時間：2012-12-11
第 0 年
所在地: 北京 北京市
em13ld 系列是采用量拓科技先進的測量技術(shù)，針對普通精度需求的研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的多入射角激光橢偏儀。 em13ld系列采用半導(dǎo)體激光器作為光源，可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量�？捎糜跍y量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計實現(xiàn)了納米薄膜的絕對厚度測量。 em13ld系列采用了量拓科技多項專利技術(shù)。
橢偏儀
￥電議
更新時間：2012-5-19
第 0 年
所在地: 吉林 長春市
激光系列產(chǎn)品 光譜測試儀器 光學(xué)精密機械 光源 光學(xué)影像 探測器 光學(xué)元件 光通信儀器 生物分析儀器
光譜橢偏儀
￥電議
更新時間：2012-4-26
第 0 年
所在地: 北京 北京市
美國ast公司設(shè)計和制造適用各種不同應(yīng)用的高品質(zhì)的光譜橢偏系統(tǒng)。橢偏振光譜儀（se）具有功能強大的技術(shù)，主要用于精確測量薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)確定，觀測薄膜表面粗糙度和薄膜材料在物理，化學(xué)和材料的光學(xué)特性。功能強大分析軟件tfprobe3.0可分析測試薄膜材料的多種性能，如薄膜材料厚度、表面粗糙度、合金濃度、介電常數(shù)。
光譜型橢偏儀
￥電議
更新時間：2012-3-8
第 0 年
所在地: 其他 其他
儀器為光譜型橢偏儀，它的設(shè)計緊湊、易于使用，可以精確測量膜層的厚度和折光系數(shù)。
nanofilm呈像橢偏儀
￥電議
更新時間：2012-3-8
第 0 年
所在地: 其他 其他
德國nanofilm公司于1991年開發(fā)出了世界上臺brewster角顯微鏡(bam)。近幾年來，nanofilm又相繼推出了不同用途的bam產(chǎn)品以及相應(yīng)的配套儀器。
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