咖啡 因 | 熔點(diǎn)對(duì)照品 |
酚酞 | 熔點(diǎn)對(duì)照品 |
水楊酸片 | 溶出度校正片 |
氨基己酸 | 鑒別 |
水楊酸 | 含量測(cè)定 |
α-甲基吡啶 | 檢查用 |
HD-443產(chǎn)品簡(jiǎn)介:破裂機(jī)標(biāo)準(zhǔn)配件
產(chǎn)品名稱:X熒光鍍層測(cè)厚儀波譜校正片
產(chǎn)品型號(hào):X熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900,CMI920波譜校正片,測(cè)厚儀校正片,膜厚儀校正片
X-熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900 / 920金屬鍍層厚度的準(zhǔn)確測(cè)量
CMI 900 / 920 系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/920主機(jī)的全面自動(dòng)化控制。
技術(shù)參數(shù):
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,在技術(shù)上一直以來(lái)都領(lǐng)先測(cè)厚行業(yè)。
A CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定多達(dá)5層、15 種元素。
B :精準(zhǔn)度領(lǐng)先行業(yè) :數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
D :統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/920系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn),可達(dá)0.025 x 0.051毫米樣品臺(tái)選擇:CMI900系列采用開(kāi)槽式樣品室,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為: 一:手動(dòng)樣品臺(tái)1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
二:自動(dòng)樣品臺(tái)
1 程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。 2 超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。
CMI920系列采用開(kāi)閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:1 全程控樣品臺(tái):XYZ 三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品高度為150mm,XY 軸程控移動(dòng)范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。 2 Z軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品高度為270mm。
3 全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品高度為356mm。 可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。
鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)校正片
產(chǎn)品類型: 配件及消耗品
產(chǎn)品名稱: X熒光鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片
產(chǎn)品型號(hào): X熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900 X-STRATA920適用的各種厚度、規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片
測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
英國(guó)牛津標(biāo)準(zhǔn)片,Oxford標(biāo)準(zhǔn)片,CMI標(biāo)準(zhǔn)片,測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片,校正片,又稱標(biāo)準(zhǔn)箔,膜厚片,通用于所有X射線鍍層測(cè)厚儀(進(jìn)口品牌Fischer、Oxford(CMI)、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等,國(guó)產(chǎn)天瑞,納優(yōu)等)。
1. 薄膜片,單層測(cè)量品種:鎳(Ni);鉻(Cr);銅(Cu);鋅(Zn);Cd(鎘);錫(Sn);銀(Ag);金(Au);鈀(Pd)等,其它鍍層可定制.
2. 鍍層標(biāo)準(zhǔn)片:雙鍍層:Au/Ni/xx, 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx等.
3. 合金標(biāo)準(zhǔn)片:合金鍍層測(cè)量:Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4. 測(cè)量厚度范圍:0.01~300μm.
美國(guó)THERMO/CalMetrics X-RAY鍍層膜厚測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)片
測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度的時(shí)候進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn).也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB,五金電鍍,半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學(xué)鍍層片。如:
單鍍層:Ag/xx, 雙鍍層:Au/Ni/xx , 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx, 合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層:Ni-P/xx.
我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國(guó)工廠定做標(biāo)準(zhǔn)片,并可出據(jù)標(biāo)準(zhǔn)片厚度值證書(shū).
我公司是一精密測(cè)試儀器代理商,為香港儀高集團(tuán)附屬成員. 我集團(tuán)在中國(guó)和香港地區(qū)代理韓國(guó)MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射線測(cè)厚儀及德國(guó)ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測(cè)厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量,而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。歡迎隨時(shí)來(lái)電咨詢或親臨我司測(cè)試及參觀!!!
多年來(lái),我們一直于為PCB 廠商,電鍍行業(yè),科研機(jī)構(gòu),半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo),因?yàn)槲覀儓?jiān)信,客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠(chéng)的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖!
歡迎咨詢洽談13424255969