| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號(hào) | EX3 |
| 測(cè)量方式 | 自動(dòng)測(cè)量 |
| 樣品放置方式 | 水平放置 |
| 光源 | 半導(dǎo)體激光器，波長(zhǎng)635nm |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性* | 0.5nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 膜厚范圍 | 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 折射率范圍 | 1.3 – 10 |
| 探測(cè)光束直徑 | Φ2-3mm |
| 入射角度 | 30°-90°，精度0.05° |
| 偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 0-360° |
| 偏振器步進(jìn)角 | 0.014° |
| 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié)：16mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° |
| 允許樣品尺寸 | 圓形樣品直徑Φ120mm，矩形樣品可達(dá)120mm x 160mm |
| 配套軟件 | * 用戶權(quán)限設(shè)置 * 多種測(cè)量模式選擇 * 多個(gè)測(cè)量項(xiàng)目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出 |
| 外形尺寸 | （入射角度70°時(shí)）450*375*260mm |
| 儀器重量（凈重） | 15Kg |
北京海創(chuàng)玻璃厚度儀
玻璃厚度儀
玻璃厚度儀專用于測(cè)量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測(cè)量。對(duì)于中空玻璃厚度的測(cè)量，同時(shí)測(cè)得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
1．激光反射原理，單側(cè)測(cè)量；2．中空玻璃，同時(shí)測(cè)空氣夾層厚度和玻璃厚度；3．量程大:玻璃厚度70mm，空氣夾層34mm；4．操作簡(jiǎn)單方便，測(cè)量快速，輕巧便攜，節(jié)能環(huán)保等特點(diǎn)；5．適用于質(zhì)量檢測(cè)、監(jiān)理、教學(xué)、生產(chǎn)、銷售、工程施工等場(chǎng)合。
1.1: 外形尺寸 長(zhǎng)160mm × 寬 55mm × 高25mm1.2: 儀器重量 250克1.3: 電池為標(biāo)準(zhǔn)2032紐扣電池1.4：測(cè)量精度 ± 0.5mm1.5：量程: 玻璃厚度70mm，空氣夾層34mm。
福州測(cè)量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶青睞
產(chǎn)品簡(jiǎn)介: ETSys-Map-PV是針對(duì)高端薄膜太陽電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域中大面積樣品檢測(cè)專門設(shè)計(jì)的在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)。 ETSys-Map-PV用于對(duì)1.4m * 1.1m及以上的大面積薄膜太陽電池樣品進(jìn)行在線檢測(cè)？蓽y(cè)量光滑平面或粗糙表面基底上的納米薄膜，包括單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；并可同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k？蓽y(cè)量樣品上指定區(qū)域的樣品參數(shù)以及樣品表面的均一性分布。 ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光橢偏儀及光伏在太陽能電池領(lǐng)域的先進(jìn)技術(shù)和產(chǎn)品設(shè)計(jì)方面的經(jīng)驗(yàn)，性能卓越。特點(diǎn):大面積絨面樣品上全表面測(cè)量可對(duì)大面積絨面薄膜太陽電池樣品上各點(diǎn)的性質(zhì)進(jìn)行分析和比較。先進(jìn)的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低噪聲的探測(cè)器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽電池表面鍍層的高靈敏檢測(cè)。微米量級(jí)的全面積掃描精度先進(jìn)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，能夠使探頭到達(dá)樣品上每個(gè)點(diǎn)，掃描精度達(dá)到微米量級(jí)。原子層量級(jí)的膜厚分析精度采用非接觸、無破壞性的橢偏測(cè)量技術(shù)，對(duì)納米薄膜達(dá)到極高的測(cè)量準(zhǔn)確度和靈敏度，膜厚測(cè)量靈敏度可達(dá)到0.05nm。簡(jiǎn)單方便安全的儀器操作用戶只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進(jìn)行高級(jí)測(cè)量設(shè)置。應(yīng)用: ETSys-Map-PV適合于高精度要求的薄膜太陽電池研發(fā)和質(zhì)量控制。 ETSys-Map-PV可用于測(cè)量大面積的薄膜太陽電池樣品上單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k； ETSys-Map-PV可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n及消光系數(shù)k； ETSys-Map-PV可應(yīng)用于：大面積薄膜太陽電池基底的材料測(cè)量薄膜太陽電池玻璃基底上透明導(dǎo)電氧化物（TCO）鍍膜測(cè)量 技術(shù)指標(biāo): 項(xiàng)目 技術(shù)指標(biāo) ![]()
【福州測(cè)量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶青睞一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒有合適您的產(chǎn)品請(qǐng)咨詢 河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司】福州測(cè)量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶青睞多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):JX200089EX3 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200089.htmlEX3 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀型號(hào):JX200098EM12 精致型多入射角激光橢偏儀![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200098.htmlEM12 精致型多入射角激光橢偏儀型號(hào):JX200092ETSys-Map-PV在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200092.htmlETSys-Map-PV在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)![]()
福州測(cè)量薄膜厚度儀器林州光譜型橢偏儀林州深受廣大客戶青睞多種型號(hào)圖片
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EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導(dǎo)體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。EX3儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理，易于理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為探測(cè)光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實(shí)用的樣品測(cè)量功能可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等。便捷的自動(dòng)化操作儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量，并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶使用權(quán)限管理軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U(kuò)展的儀器功能利用本儀器，可通過適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。應(yīng)用領(lǐng)域:EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測(cè)量，也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測(cè)量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo):
注：(1)測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量30次的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證:ISO9001國(guó)際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證專業(yè)的儀器使用培訓(xùn)專業(yè)的橢偏測(cè)量原理課程
EM12是采用量拓科技先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，針對(duì)中端精度需求的研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。 EM12可在單入射角度或多入射角度下對(duì)樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量？捎糜跍y(cè)量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)測(cè)量納米薄膜動(dòng)態(tài)生長(zhǎng)中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了納米薄膜的厚度測(cè)量。 EM12采用了量拓科技多項(xiàng)專利技術(shù)。特點(diǎn)：次納米量級(jí)的高靈敏度國(guó)際先進(jìn)的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了能夠測(cè)量極薄納米薄膜，膜厚精度可達(dá)到0.2nm。1.6秒的快速測(cè)量國(guó)際水準(zhǔn)的儀器設(shè)計(jì)，在保證精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，可在1.6秒內(nèi)快速完成一次測(cè)量，可對(duì)納米膜層生長(zhǎng)過程進(jìn)行測(cè)量。簡(jiǎn)單方便的儀器操作用戶只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進(jìn)行高級(jí)測(cè)量設(shè)置。應(yīng)用：EM12適合于中端精度要求的科研和工業(yè)環(huán)境中的新品研發(fā)或質(zhì)量控制。EM12可用于測(cè)量單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k；可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；可用于實(shí)時(shí)測(cè)量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。EM12可應(yīng)用的納米薄膜領(lǐng)域包括：微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。可應(yīng)用的塊狀材料領(lǐng)域包括：固體（金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等），或液體（純凈物或混合物）。技術(shù)指標(biāo):
| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 儀器型號(hào) | EM12 |
| 激光波長(zhǎng) | 632.8nm (He-Ne Laser) |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性（1） | 0.2nm (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率測(cè)量重復(fù)性（1） | 2x10-3 (對(duì)于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 單次測(cè)量時(shí)間 | 與測(cè)量設(shè)置相關(guān)，典型1.6s |
| 的膜層范圍 | 透明薄膜可達(dá)4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 光學(xué)結(jié)構(gòu) | PSCA（Δ在0°或180°附近時(shí)也具有極高的準(zhǔn)確度） |
| 激光光束直徑 | 1-2mm |
| 入射角度 | 40°-90°可手動(dòng)調(diào)節(jié)，步進(jìn)5° |
| 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié)：±6.5mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4° 樣品對(duì)準(zhǔn)：光學(xué)自準(zhǔn)直和顯微對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng) |
| 樣品臺(tái)尺寸 | 平面樣品直徑可達(dá)Φ170mm |
| 外形尺寸 | 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時(shí)) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
| 選配件 | 水平XY軸調(diào)節(jié)平移臺(tái) 真空吸附泵 |
| 軟件 | ETEM軟件： l 中英文界面可選； l 多個(gè)預(yù)設(shè)項(xiàng)目供快捷操作使用； l 單角度測(cè)量/多角度測(cè)量操作和數(shù)據(jù)擬合； l 方便的數(shù)據(jù)顯示、編輯和輸出 l 豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫支持 |
注：(1)測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量25次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。
性能保證:- 穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、先進(jìn)的采樣方法，保證了高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度
- 高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對(duì)準(zhǔn)
- 穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對(duì)準(zhǔn)，結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù)，保證了快速、穩(wěn)定測(cè)量
- 分立式的多入射角選擇，可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測(cè)量
- 一體化集成式的儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間
- 一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫和材料數(shù)據(jù)庫，方便用戶使用
- 可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 樣品池
ETSys-Map-PV是針對(duì)高端薄膜太陽電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域中大面積樣品檢測(cè)專門設(shè)計(jì)的在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)。 ETSys-Map-PV用于對(duì)1.4m * 1.1m及以上的大面積薄膜太陽電池樣品進(jìn)行在線檢測(cè)？蓽y(cè)量光滑平面或粗糙表面基底上的納米薄膜，包括單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；并可同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。可測(cè)量樣品上指定區(qū)域的樣品參數(shù)以及樣品表面的均一性分布。 ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光橢偏儀及光伏在太陽能電池領(lǐng)域的先進(jìn)技術(shù)和產(chǎn)品設(shè)計(jì)方面的經(jīng)驗(yàn)，性能卓越。特點(diǎn):大面積絨面樣品上全表面測(cè)量可對(duì)大面積絨面薄膜太陽電池樣品上各點(diǎn)的性質(zhì)進(jìn)行分析和比較。先進(jìn)的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低噪聲的探測(cè)器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽電池表面鍍層的高靈敏檢測(cè)。微米量級(jí)的全面積掃描精度先進(jìn)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，能夠使探頭到達(dá)樣品上每個(gè)點(diǎn)，掃描精度達(dá)到微米量級(jí)。原子層量級(jí)的膜厚分析精度采用非接觸、無破壞性的橢偏測(cè)量技術(shù)，對(duì)納米薄膜達(dá)到極高的測(cè)量準(zhǔn)確度和靈敏度，膜厚測(cè)量靈敏度可達(dá)到0.05nm。簡(jiǎn)單方便安全的儀器操作用戶只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測(cè)量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進(jìn)行高級(jí)測(cè)量設(shè)置。應(yīng)用: ETSys-Map-PV適合于高精度要求的薄膜太陽電池研發(fā)和質(zhì)量控制。 ETSys-Map-PV可用于測(cè)量大面積的薄膜太陽電池樣品上單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k； ETSys-Map-PV可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n及消光系數(shù)k； ETSys-Map-PV可應(yīng)用于：大面積薄膜太陽電池基底的材料測(cè)量薄膜太陽電池玻璃基底上透明導(dǎo)電氧化物（TCO）鍍膜測(cè)量 技術(shù)指標(biāo):
注：（1）測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量25次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證高穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測(cè)技術(shù)，保證了系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對(duì)準(zhǔn)，結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù)，保證了快速、穩(wěn)定測(cè)量一體化集成式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、整體穩(wěn)定性提高一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫和材料數(shù)據(jù)庫，方便用戶使用 可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片
| 項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
| 系統(tǒng)型號(hào) | ETSys-Map-PV |
| 結(jié)構(gòu)類型 | 在線式 |
| 激光波長(zhǎng) | 632.8nm (He-Ne laser) |
| 膜厚測(cè)量重復(fù)性（1） | 0.05nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率n精度（1） | 5x10-4 (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 結(jié)構(gòu) | PSCA |
| 激光光束直徑 | ~1 mm |
| 入射角度 | 60°-75°可選 |
| 樣品放置 | 放置方式：水平 運(yùn)動(dòng)：X軸單方向運(yùn)動(dòng) 運(yùn)動(dòng)范圍：>1.4m 三維平移調(diào)節(jié) 二維俯仰調(diào)節(jié) 可對(duì)樣品進(jìn)行掃描測(cè)量 |
| 樣品臺(tái)尺寸 | 1.4m*1.1m，并可定制。 |
| 測(cè)量速度 | 典型0.6s-4s /點(diǎn)（取決于樣品種類及測(cè)量設(shè)置） |
| 的膜層厚度測(cè)量范圍 | 光滑平面樣品：透明薄膜可達(dá)4000nm，吸收薄膜與材料性質(zhì)相關(guān) |
| 選配件 | 樣品監(jiān)視系統(tǒng) 自動(dòng)樣品上片系統(tǒng) |
| 型號(hào):JX200089EX3 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 | 型號(hào):JX200098EM12 精致型多入射角激光橢偏儀 | 型號(hào):JX200092ETSys-Map-PV在線薄膜測(cè)量系統(tǒng) |
YG141P型全自動(dòng)土工布厚度儀
【適用范圍】：用于土工合成材料和相關(guān)產(chǎn)品在不同壓力及規(guī)定時(shí)間下的厚度的測(cè)定。【符合標(biāo)準(zhǔn)】：JTG E50、ISO 9863、GB/T 13761【產(chǎn)品特點(diǎn)】：1.微機(jī)控制，超大觸摸屏幕控制界面，測(cè)試過程動(dòng)態(tài)顯示。 2.采用進(jìn)口傳感器測(cè)量，精度高達(dá)萬分之二，無人工誤差。3.測(cè)試壓力參數(shù)2KPa，20KPa，200KPa等任意設(shè)置。4.測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差.5.實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的最大值、最小值、平均值等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷6.具有電腦接口以及打印機(jī)接口，具有單點(diǎn)測(cè)量以及多點(diǎn)測(cè)量方式可選。7.際高專利產(chǎn)品，國(guó)內(nèi)唯一一款全自動(dòng)，智能型厚度測(cè)試儀。【技術(shù)參數(shù)】：1、壓腳面積：25cm (圓形直徑：Ф56.42mm)或選配其他面積2、穩(wěn)壓時(shí)間：10S 20S，30S，40S，50S或其他時(shí)間任意設(shè)置3、測(cè)試壓力：2±0.01KPa；20±0.1KPa；200±0.1KPa以及其他壓力4、測(cè)試厚度：0-50mm5、傳感器量程： 500N6、精度：≤±0.02%F.S 7、數(shù)據(jù)輸出：聯(lián)機(jī)控制，打印輸出，編輯保存 8、分辨率：0.001mm9、測(cè)量方式：?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量和多點(diǎn)測(cè)量任意選擇10、電源電壓： AC220V±10% 功率：100W11、外形尺寸：360mm*500mm*700mm12 、重量：約45KG
FG03-YG141D數(shù)字式織物厚度儀
數(shù)字式織物厚度儀
| 用于各種機(jī)織物、針織物和土工布的厚度測(cè)定。 適用標(biāo)準(zhǔn)：ISO5048 9073 9863
|  |
 |
| 測(cè)定厚度范圍: | 0.01~10mm |
| 最小分度值: | 0.01mm |
| 壓腳直徑: | Φ7.98、Φ11.28、Φ25.22、Φ35.68、Φ50.48mm五檔 |
| 壓重砝碼: | 25CN、50CN、100cN、200cN |
| 壓重時(shí)間: | 10S、30S |
| 外形尺寸: | 410×160×300mm(L×W×H) |
| 重量: | 25kg |
| 電源: | AC220V 50Hz |
H51非金屬板厚度測(cè)試儀，樓板測(cè)厚度儀
H51非金屬板厚度測(cè)試儀，樓板測(cè)厚度儀產(chǎn)品特性：非金版屬測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：H51 非金屬板厚度測(cè)試儀（又稱樓板儀）用來自動(dòng)測(cè)量非金屬板（如混凝土，巖土，玻璃板等）的厚度，具有厚度測(cè)量、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與輸出等功能，是一種便攜式、使用方便、測(cè)量精確的智能化厚度測(cè)量?jī)x
H51 非金屬板厚度測(cè)試儀（又稱樓板儀）用來自動(dòng)測(cè)量非金屬板（如混凝土，巖土，玻璃板等）的厚度，具有厚度測(cè)量、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與輸出等功能，是一種便攜式、使用方便、測(cè)量精確的智能化厚度測(cè)量?jī)x。
技術(shù)指標(biāo)厚度測(cè)量范圍 ：40mm～800mm 示值最大誤差 ：40 ～ 600mm ±1mm 601～800mm ±2mm數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量 ：3.2萬組測(cè)點(diǎn)工作環(huán)境要求 環(huán)境溫度：-10℃～＋40℃ 相對(duì)濕度：<90%RH電磁干擾：無強(qiáng)交變電磁場(chǎng) 不得長(zhǎng)時(shí)間陽光直射6節(jié)5號(hào)堿性電池，供電時(shí)間大于30小時(shí)。 依據(jù)規(guī)范中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《混凝土結(jié)構(gòu)工程施工質(zhì)量驗(yàn)收規(guī)范》GB50204-2002
性能特點(diǎn)測(cè)試距離大。測(cè)試距離高達(dá)800mm，測(cè)試精度優(yōu)于其他同類產(chǎn)品。實(shí)時(shí)顯示測(cè)量信息。自動(dòng)的判讀并鎖定樓板的厚度值，無需人工參與，大大提高了測(cè)試精度。儀器測(cè)試速度快。我公司采用高速處理平臺(tái)，對(duì)樓板厚度的判定速度快。探頭的使用壽命長(zhǎng)。我公司樓板儀探頭底面采用高質(zhì)量耐磨層，大大的提高了探頭和儀器的使用壽命。保存測(cè)試日期。方便用戶的數(shù)據(jù)管理。便攜的萬向延長(zhǎng)桿。采用可伸縮式延長(zhǎng)桿、萬向節(jié)設(shè)計(jì)，現(xiàn)場(chǎng)使用非常的方便。功能強(qiáng)大的專業(yè)的windows數(shù)據(jù)分析處理軟件。可以圖形的方式表示測(cè)試結(jié)果，可以直接生成Word檢測(cè)報(bào)告，方便快捷。
土工布厚度儀，供應(yīng)土工布厚度儀
| 詳細(xì)說明: |
| 土工布厚度儀適用范圍：用于土工布合成材料在不同的壓力和規(guī)定的受壓時(shí)間，測(cè)試其厚度。 土工布厚度儀符合標(biāo)準(zhǔn)：JTJ/T060-98《公路土工合成材料試驗(yàn)規(guī)程》 技術(shù)參數(shù)： 壓腳面積：25cm2（壓腳直徑：Ф56.42mm） 壓腳重量5N（自重：510.2g四只） 二次壓重20kPa±0.1kPa（壓腳加壓桿：509.8g） 三次壓重200kPa±1kPa（壓腳加法碼：5098.5g） （電子式）百分表：0～24mm 最小分度值：0.01mm （機(jī)械式）千分表：0～1mm 最小分度值：0.001mm （電子式）秒表 最小分度值：0.1S |
該公司產(chǎn)品分類：
巖石檢測(cè)儀器系列
隔墻板測(cè)試儀器
瀝青混凝土系列
試驗(yàn)機(jī)系列
粗粒土水利水電測(cè)試儀器系列
塑料波紋管測(cè)試儀器系列
開關(guān)插座測(cè)試儀器系列
防水材料測(cè)試儀器系列
安全網(wǎng)安全帽檢測(cè)儀器系列
陶瓷磚測(cè)試儀器系列
橋梁密封膠測(cè)試儀器
塑料檢查井測(cè)試儀器
土工合成材料水平滲透儀
土工布排水板通水儀
土工合成材料蠕變系統(tǒng)
電動(dòng)數(shù)顯土工布厚度儀
土工布厚度儀
土工合成材料直剪拉拔摩擦系統(tǒng)
土工合成材料直剪儀
土工合成材料拉拔儀
LS-3葉片厚度儀 LS-3植物葉片厚度測(cè)量?jī)x
名 稱:葉片厚度儀
型 號(hào)：LS-3
品 牌：綠博
產(chǎn) 地：浙江
優(yōu)惠價(jià)格：1200元
LS-3葉片厚度儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
葉片是植物最重要的器官，其形態(tài)變化可以反映出植物生長(zhǎng)狀態(tài)的變化，如光合作用、水分情況、養(yǎng)分情況等。研究表明，葉片厚度變化具有周期規(guī)律性，可分為長(zhǎng)周期和短周期（24小時(shí)）。掌握這些規(guī)律對(duì)研究植物水分狀態(tài)具有重要意義。
通常的灌溉系統(tǒng)是以空氣的溫度、濕度以及土壤的濕度作為控制參數(shù)，屬于開環(huán)控制。針對(duì)這一問題，提出了以植物的器官(葉片、莖桿、果實(shí))的幾何參數(shù)為控制參數(shù)的智能節(jié)水灌溉控制系統(tǒng)，屬于閉環(huán)控制。
LS-3葉片厚度儀技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍：0－－10mm
分 辨 率：0.01mm
精 度：0.015mm
接觸面積：Φ10mm
讀取裝置：指針
如需了解更多詳情請(qǐng)聯(lián)系廣州航信科學(xué)儀器有限公司，來電價(jià)格有優(yōu)惠
該產(chǎn)品本公司免費(fèi)承擔(dān)至全國(guó)各地（僅限物流公司可到達(dá)網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)）的運(yùn)輸費(fèi)用，不含送貨上門；如需送貨上門，根據(jù)貴單位所在具體地址另行收費(fèi)，偏遠(yuǎn)地區(qū)請(qǐng)先至電。本公司銷售產(chǎn)品保修一年，終身維護(hù)。
YG141織物厚度儀
產(chǎn)品信息 型號(hào)： YG141N用途：用于各種機(jī)織物、針織物和非織布的厚度測(cè)定。適用標(biāo)準(zhǔn) ：GB/T3820-1997, FZ/T60004, ISO5084, 9073等。主要技術(shù)指標(biāo):
型 號(hào) | YG141N |
測(cè)定厚度范圍 | 0.01-10mm, LCD |
最小分度值 | 0.01mm |
壓腳面積 | 100,2000,2500,10000(mm2) |
壓重砝碼 | 50CN(二只),100CN(二只),200CN(一只) |
壓重時(shí)間 | 10S,30S |
重 量 | 30kg |
外形尺寸 | 210x450x310mm |
電 源 | AC220V±10% 50Hz |
26系列腐蝕厚度儀
26系列超聲波測(cè)厚儀包括26MG,26MG-XT和26XTDL,操作簡(jiǎn)單,是測(cè)量腐蝕金屬理想的便攜式測(cè)厚儀。測(cè)厚儀使用雙晶探頭,從被測(cè)物體的一面就可以測(cè)量被腐蝕,有凹痕,被氧化或呈粒狀等其它較難測(cè)量物體的厚度。有多種探頭可選？蓪(duì)厚度在0.5mm--500mm之間,溫度在-20C°--+500C°之間的物體進(jìn)行測(cè)量。 26MG基本型測(cè)厚儀的將操作簡(jiǎn)單,價(jià)格低廉和功能齊全三大優(yōu)點(diǎn)融為一體. 并具有快速最小捕捉模式和凍結(jié)模式.兩節(jié)AA5# 電池可工作250小時(shí). 26MG-XT 包括26MG所有功能, 附加增益閘門,自動(dòng)靈敏度優(yōu)化和高低報(bào)警功能. 26XTDL 將26MG-XT的特征和數(shù)據(jù)采集功能相結(jié)合,配有RS-232數(shù)據(jù)輸出接口,可與計(jì)算機(jī)或打印機(jī)連接。內(nèi)置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器用來記錄厚度讀數(shù),能保存約8000個(gè)測(cè)量厚度值。 技術(shù)規(guī)格26MG26MG－XT26XTDL顯 示 屏液晶顯示 45X20mm 液晶顯示 45X20mm 液晶顯示 45X20mm 測(cè)量范圍0.5---500mm0.5---500mm0.5---500mm頻率范圍1MHZ - 15MHZ (-3dB) 1MHZ - 15MHZ (-3dB) 1MHZ - 15MHZ (-3dB) 聲速范圍0.762-13,999mm/μsec 0.762-13,999mm/μsec 0.762-13,999mm/μsec 顯示精度0.1/0.01mm 0.1/0.01mm 0.1/0.01mm 存儲(chǔ)裝置無 無 8000組厚度值波形顯示無 無 無 RF顯示無 無 無 增益閘門無 高/低任選 高/低任選 回波回波測(cè)量無 無 無 差分測(cè)量無 有 有 高低報(bào)警無 有 有 自動(dòng)關(guān)機(jī)有 有 有 背光自動(dòng)/手動(dòng)(任選) 自動(dòng)/手動(dòng)(任選) 自動(dòng)/手動(dòng)(任選) 掃描速度2點(diǎn)/標(biāo)準(zhǔn) 20點(diǎn)/快速 2點(diǎn)/標(biāo)準(zhǔn)20點(diǎn)/快速 2點(diǎn)/標(biāo)準(zhǔn)20點(diǎn)/快速 工作溫度-10-50℃ -10-50℃ -10-50℃ 測(cè)量溫度-20-500℃ -20-500℃ -20-500℃ 探頭種類雙晶/自動(dòng)識(shí)別 雙晶/自動(dòng)識(shí)別雙晶/自動(dòng)識(shí)別RS232接口選件 選件 有 電 池AA 5＃電池×2 工作250小時(shí) AA 5＃電池×2 工作250小時(shí) AA 5＃電池×2 工作250小時(shí) 充 電 器無 無 無 外型尺寸64.8 X 128.5 X 29mm 64.8 X 128.5 X 29mm 64.8 X 128.5 X 29mm 重 量0.24Kg 0.24Kg 0.24Kg
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