stz400h型半導體四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀、塊狀半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量,可以從10-4--106ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。儀器為臺式結(jié)構(gòu),分為電氣箱、測試架兩大部分,用戶可以根據(jù)測試需要安放在一般工作臺或者專用工作臺上,測試架由探頭及壓力傳動機構(gòu)、樣品架組成,耐磨和使用壽命長的特點。探頭內(nèi)設有彈簧壓力裝置,壓力連續(xù)可調(diào),測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購
更新時間:2024-12-20