表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家
雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針方阻儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口.
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方塊電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).
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薄膜方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法，絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長(zhǎng)方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動(dòng)狀），目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少，本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外，還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)。
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糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試
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本品為解決四探針法測(cè)試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測(cè)試到1010ω方阻值，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最大方阻值，選購(gòu)：本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用，通過不同的測(cè)量治具滿足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
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液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
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直流恒流源輸出系統(tǒng)結(jié)合集成電路及高精度芯片控制，大液晶顯示屏幕更加直觀，直讀電阻，電壓降，電阻率，高精度的測(cè)試量程；各類參數(shù)和功能設(shè)定通過薄膜面板實(shí)現(xiàn)，人性化設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機(jī)、電腦和其他外接控制單元。
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金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程,適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料.
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瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。
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lx-9830g恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀該儀器適用于測(cè)量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降,從而判斷接線口優(yōu)劣,也可檢查插頭線在完成標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的彎曲試驗(yàn)次數(shù)后的斷線情況。該儀器同時(shí)適用于測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、開關(guān)、線材線束、壓接線端子、連接器等相關(guān)產(chǎn)品之電壓降測(cè)試本儀器有可調(diào)的大電流輸出,微電壓測(cè)試,數(shù)碼管顯示。滿足標(biāo)準(zhǔn)：sae/uscar38 2009
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鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀 采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。滿足：yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定.
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四探針粉末電阻率測(cè)試,粉末電阻儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求
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ft-300i 高精度粉末電阻率測(cè)試儀ft-300i 高精度粉末電阻率測(cè)試儀 粉末電阻率測(cè)試儀 一、功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求
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ft-300ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀ft-300ⅳ半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀滿足：yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定；
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電線電阻率測(cè)試儀 測(cè)量金屬材料體積電阻率和質(zhì)量電阻率時(shí)，可以測(cè)量全規(guī)格銅桿、銅線、銅線坯、鋁桿、鋁線、硬鋁錢、硅合金線的電阻率。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表.電纜電阻率測(cè)量?jī)x 電線電阻率測(cè)試儀 電纜電阻率測(cè)量?jī)x
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材料電導(dǎo)性能測(cè)試儀,自動(dòng)電阻率測(cè)試儀ft-320 材料超低電阻及電阻率測(cè)試儀一.本儀器采用四端測(cè)量方式，測(cè)試材料超低電阻、電阻率和高導(dǎo)電性能數(shù)據(jù)。該儀器采用高精度直流恒流恒壓源，高效率，穩(wěn)定度和準(zhǔn)確性高；有手動(dòng)和自動(dòng)設(shè)定模式；并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率、電導(dǎo)率、電
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ft-300a1導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀 配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
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ft-300a2通用型材料電阻率測(cè)試儀 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。
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ft-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀輸出采用高精度芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便. ft-301多功能粉末電阻率測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)：1.本機(jī)自帶軟件由電腦自動(dòng)控制儀器工作
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方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 方塊電阻測(cè)定儀,雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
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上海四探針方塊電阻測(cè)試儀 、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求 上海四探針方塊電阻測(cè)試儀
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四探針方阻測(cè)試儀操作方法 按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針 ft-332四探針 四點(diǎn)探針 四探針測(cè)試儀
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數(shù)字式四探針測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
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自動(dòng)導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀采用一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，將粉末比電阻的測(cè)量與粉體電阻率/電導(dǎo)率分析為一體，測(cè)量與數(shù)據(jù)分析通過pc軟件完成，粉體壓強(qiáng)與電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值的變化關(guān)系
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雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
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薄膜電阻率測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
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端子電壓降測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時(shí)滿足德國(guó)、法國(guó)、韓國(guó)、日本、等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求和測(cè)試規(guī)范，電壓降實(shí)驗(yàn)按qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn)5.7進(jìn)行實(shí)驗(yàn) qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn).
更新時(shí)間:2024-12-11
經(jīng)濟(jì)型表面電阻和體積電阻測(cè)試儀 適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
更新時(shí)間:2024-12-11
ft-310炭素材料電阻率測(cè)試儀四端測(cè)試法測(cè)量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導(dǎo)電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源，自動(dòng)顯示電流和電壓并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率等數(shù)據(jù)，選配：如配備軟件可，通過軟件操控儀器工作，并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)之圖表和測(cè)試結(jié)果。根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測(cè)試治具.
更新時(shí)間:2024-12-11
ft-336型四探針電阻率測(cè)試儀采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。
更新時(shí)間:2024-12-11
智能炭塊電阻率測(cè)定儀，采用步進(jìn)定位90度或120度旋轉(zhuǎn)測(cè)量系統(tǒng),壓力傳感器配備彈性緩存夾緊樣品,pc軟件分析數(shù)據(jù),可編輯報(bào)表生成,自動(dòng)分析均值,偏差值等數(shù)據(jù). 一體化設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu).人性化模塊操作界面.
更新時(shí)間:2024-12-11
四點(diǎn)探針測(cè)試儀參照gb/t 1551、gb/t1552-1995，astm f84美國(guó)a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。the four-probe tester meets gb/t 1551, gb/t1552-1995, astm f84 u.s. a. s.t.m. standard.2）四探針法粉末測(cè)試平臺(tái)參照gbt308
更新時(shí)間:2024-12-11
金屬涂層表面電阻（方阻）測(cè)試儀適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層。
更新時(shí)間:2024-12-11
雙電四探針粉末電阻率測(cè)試儀（智能型）使用說明， 全程采用pc軟件操作，粉體壓縮前及壓縮后壓力增減過程中粉體因自身特性內(nèi)聚力反彈形變或恢復(fù)過程變化曲線圖譜；自動(dòng)測(cè)試過程數(shù)據(jù)曲線及圖譜分析，實(shí)時(shí)分析壓強(qiáng)/壓力與電阻。
更新時(shí)間:2024-12-11
參照標(biāo)準(zhǔn)basis：gb4066.1-2004干粉滅火劑通用技術(shù)條件之電絕緣性要求用于檢測(cè)干粉滅火劑之電絕緣性
更新時(shí)間:2024-12-11
絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀詳情介紹絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀是測(cè)量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、靜電產(chǎn)品、如靜電鞋、靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
更新時(shí)間:2024-12-11
ft-303b型表面電阻率測(cè)試儀適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
更新時(shí)間:2024-12-11
電池片電導(dǎo)率測(cè)試儀，采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定； pc軟件界面操作，實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；
更新時(shí)間:2024-12-11
四探針法粉末電導(dǎo)率測(cè)試儀，已知量的粉體，在液壓動(dòng)力下壓縮體積至設(shè)定壓力值或壓強(qiáng)，在線測(cè)量粉體電阻、電阻率、電導(dǎo)率，并記錄數(shù)據(jù).解決粉體難壓片成型或壓片取出測(cè)量誤差.
更新時(shí)間:2024-12-11
全量程四探針測(cè)試儀，四探針法，可測(cè)微歐到兆歐方阻值量程，采用ad芯片控制，恒流輸出， pc軟件運(yùn)行，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量和系數(shù)修正，直讀方阻，電阻，電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)；中文或英文語(yǔ)言版本；具有屏蔽功能；參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。單晶硅物理測(cè)試方法
更新時(shí)間:2024-12-11
導(dǎo)體和絕緣材料電阻率測(cè)試儀，具有寬量程測(cè)試范圍，覆蓋從導(dǎo)體材料至絕緣材料測(cè)試的測(cè)量；pc軟件對(duì)數(shù)據(jù)處理和分析，直讀電阻，電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)，具有屏蔽保護(hù)功能，一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，配備低阻和高阻測(cè)量治具；232通訊端口，標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器；提供中文或英文操作界面.
更新時(shí)間:2024-12-11
自動(dòng)鋰電池片電導(dǎo)率測(cè)試儀，采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定； pc軟件界面操作，實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；
更新時(shí)間:2024-12-11
導(dǎo)電和抗靜電橡膠電阻率測(cè)試儀，含有炭黑或電離物質(zhì)的導(dǎo)電性能或耗損性能的硫化橡膠和熱塑性橡膠經(jīng)特殊制備的試樣在實(shí)驗(yàn)室對(duì)其體積電阻率的測(cè)定，在橡膠配料中摻入電離物質(zhì)也可以使混煉膠具有抗靜電性能；用于電阻率低于10^10ω.m的物質(zhì).
更新時(shí)間:2024-12-11
ft-303ae點(diǎn)對(duì)點(diǎn)電阻測(cè)試儀，用于測(cè)量防靜電工作服、織物、地毯、絕緣材料的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)電阻測(cè)量；
更新時(shí)間:2024-12-11
材料高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)，材料電阻、電導(dǎo)率和電阻率，并配合溫度試驗(yàn)箱結(jié)合高溫治具與pc軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.
更新時(shí)間:2024-12-11
高絕緣電阻率測(cè)試儀，測(cè)量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。高絕緣電阻率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-12-11
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