thick800a憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測(cè)量方向,xdl? 系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 x 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào),從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 x 射線儀器。
edx4500系列設(shè)備的真空測(cè)量室能夠通過(guò) x 射線熒光分析 (rfa) 檢測(cè)原子序數(shù)從na(11)開(kāi)始的輕元素。由于空氣會(huì)吸收輕元素的熒光x射線,因此在大氣環(huán)境中通常無(wú)法使用該方法。因此,該儀器非常適合對(duì)要求嚴(yán)苛的鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量和材料分析。