涂層測厚儀產(chǎn)品及廠家
合金成分鍍層膜厚分析儀器注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
更新時間:2024-12-23
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
更新時間:2024-12-23
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
電鍍液鍍層含量測定鍍層測厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2024-12-23
鍍層膜厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2024-12-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
鍍層厚度測試分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
天瑞儀器thick800a 注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞
更新時間:2024-12-23
x射線鍍層測厚檢測儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。
更新時間:2024-12-23
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
國產(chǎn)x鍍層測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
更新時間:2024-12-23
天瑞儀器光譜儀thick800a 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2024-12-23
x鍍層測厚儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-23
電鍍滾鍍廠測厚儀：thick800a測定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步：確定測試時間：40s第三步：測試其重復(fù)性得出相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
更新時間:2024-12-23
x射線鍍層測厚檢測儀針對不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實(shí)現(xiàn)不同測試點(diǎn)的測試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測器，實(shí)現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2024-12-23
電鍍層測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2024-12-23
任意多個可選擇的分析和識別模型。銅鍍鎳鍍鋅測厚膜厚儀相互立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
更新時間:2024-12-23
多元素復(fù)合鍍層測試儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2024-12-23
thick800a 膜厚儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標(biāo)定位測試點(diǎn)4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2024-12-23
thick800a 膜厚儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標(biāo)定位測試點(diǎn)4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2024-12-23
鍍層膜厚測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
更新時間:2024-12-23
電鍍層x射線光譜儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標(biāo)定位測試點(diǎn)4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2024-12-23
鍍層厚度檢測儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
更新時間:2024-12-23
五金配件鈦合金檢測儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標(biāo)定位測試點(diǎn)4.測試組件可升降
更新時間:2024-12-23
pcb多電鍍鍍層測厚儀 針對不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實(shí)現(xiàn)不同測試點(diǎn)的測試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測器，實(shí)現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2024-12-23
x射線鍍層膜厚測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-23
鍍層分析光譜儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標(biāo)定位測試點(diǎn)4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2024-12-23
涂層測厚儀 dr120一體式手持型聯(lián)絡(luò)天津嘉諾德儀表，dr120采用電磁感應(yīng)原理無損傷進(jìn)行磁性金屬表面涂鍍層厚度的測量。可無損地測量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、鎳）上非磁性覆層的厚度（如：油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層,鍍鋅、鉻等）;dr120一體式涂層測厚儀采用金屬測頭
更新時間:2024-12-23
dr270涂層測厚儀是一款渦流測厚儀，采用渦流測厚方法，可無損地測量非磁性金屬基體（如：鋁、銅、不銹鋼）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如:油漆、粉末、塑料、橡膠、琺瑯、搪瓷、電泳、防腐層等）
更新時間:2024-12-23
dr280涂層測厚儀是一款兩用涂層測厚儀，專業(yè)測量金屬材料表面涂鍍層覆蓋層物體厚度的專業(yè)無損檢測儀器。它根據(jù)金屬基體不同使用以下不同的測量方法。
更新時間:2024-12-23
dr210涂層測厚儀是一款一體式渦流測厚儀，它集成了便攜式，一體式，手持式,智能數(shù)顯等特點(diǎn)，快速、無損傷地進(jìn)行非磁性金屬表面涂層厚度的測量
更新時間:2024-12-23
dr230涂層測厚儀是一款一體式兩用覆層測厚儀，它集成了便攜式，一體式，手持式,智能數(shù)顯等特點(diǎn)，能自動識別基體底材,快速、無損傷地進(jìn)行金屬表面涂鍍層厚度的測量。
更新時間:2024-12-23
英國易高elcometer涂層測厚儀a456cfbs+t456cf1r易高elcometer456儀器分為4個類型：e型、b（基本型）、s（標(biāo)準(zhǔn)型）、t（高級型），從最初的易高456e型到現(xiàn)在的456t型，儀器功能不斷增加，易高456t型帶有記憶、字母數(shù)字組合記錄數(shù)據(jù)批次和藍(lán)牙傳輸功能。
更新時間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時間:2024-12-23
lat-b 型智能化涂、鍍層測厚儀是一款利用、電磁感應(yīng)原理，采用單片機(jī)控制的智能化儀 測量磁性基層上涂、鍍層厚度它在lat-a的基礎(chǔ)上去除了存儲、打印、統(tǒng)計(jì)、通信等不常用功能，精簡了面板按鍵，具有體積更小、使用更簡單的特點(diǎn)。是一款更適合現(xiàn)場使用的儀器。它可以單次、連續(xù)測量，具有超強(qiáng)報(bào)警功能。
更新時間:2024-12-23
lktc系列電腦膜層測厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時間:2024-12-23
實(shí)物蘭泰一體式涂層測厚儀cm－8829s 非鐵基測厚儀cm8829n
更新時間:2024-12-23
最新產(chǎn)品
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