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探針臺產(chǎn)品及廠家

氣氛型高溫探針臺 樣品材料電學(xué) 光學(xué)測試實(shí)驗(yàn)臺
快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試。
更新時(shí)間:2024-12-20
氣氛型高溫探針臺真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測試
氣氛型高溫探針臺真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測試控溫精度：±0.1k；真空度：10e-3pa；
更新時(shí)間:2024-12-20
真空探針臺高低溫測試實(shí)驗(yàn)臺材料測試霍爾測試
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-20
實(shí)驗(yàn)測量設(shè)備磁場探針臺芯片測試半導(dǎo)體儀器
實(shí)驗(yàn)測量設(shè)備磁場探針臺芯片測試半導(dǎo)體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-20
半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺
半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-20
多維磁場探針臺半導(dǎo)體材料光學(xué)測量實(shí)驗(yàn)室儀器
錦正茂三維磁場探針臺 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2024-12-20
定制探針臺高低溫真空磁場高精度實(shí)驗(yàn)臺
定制探針臺高低溫真空磁場高精度實(shí)驗(yàn)臺用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-20
三維磁場探針臺多維磁場實(shí)驗(yàn)裝置半導(dǎo)體材料測試
三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時(shí)間:2024-12-20
磁場探針臺產(chǎn)生多維磁場半導(dǎo)體測試設(shè)備
磁場探針臺產(chǎn)生多維磁場半導(dǎo)體測試設(shè)備三維探針臺和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時(shí)間:2024-12-20
JZM-D30室溫探針臺磁場、電源、樣品臺均可定制
該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2024-12-20
實(shí)驗(yàn)室高低溫真空環(huán)境高精度探針臺防輻射實(shí)驗(yàn)臺
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-20
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺該探針臺和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2024-12-20
半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺高低溫真空環(huán)境探針臺
半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺高低溫真空環(huán)境探針臺 錦正茂高低溫真空探針臺可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測試（4.2k~500k）。
更新時(shí)間:2024-12-20
高溫磁場加熱系統(tǒng)
主要技術(shù)指標(biāo)：※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度）※ 控溫精度：±1℃※ 溫度分辨率：0.1℃※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨(dú)固定）
更新時(shí)間:2024-12-20
錦正茂科技低溫三維磁場探針臺
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時(shí)間:2024-12-20
高低溫探針臺 用于傳感器 半導(dǎo)體 光電測試
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺直徑：50mm 樣品載臺平整度<5微米
更新時(shí)間:2024-12-20
高？蒲袑(shí)驗(yàn)室高低溫探針臺
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。
更新時(shí)間:2024-12-20
東莞模擬運(yùn)輸振動臺
東莞模擬運(yùn)輸振動臺東莞模擬運(yùn)輸振動臺儀器特點(diǎn)：1. 模擬運(yùn)輸振動：該振動臺能夠精準(zhǔn)地模擬汽車在道路上運(yùn)輸時(shí)的振動情況，確保產(chǎn)品在運(yùn)輸過程中的質(zhì)量和穩(wěn)定性。2. 高精度控制系統(tǒng)：配備高精度控制系統(tǒng)，可精
更新時(shí)間:2024-12-18
氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器
氣氛型高溫探針臺測試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器此款探針臺可在真空環(huán)境下對樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試。
更新時(shí)間:2024-12-14
高低溫真空探針臺測試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺
高低溫真空探針臺測試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺可升加載磁場，低溫防輻射屏設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-12-14
錦正茂科技 定制高低溫探針臺
高低溫探針臺t8-ly100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個(gè)80k-420k高低溫測試環(huán)境，
更新時(shí)間:2024-12-14
定制氣氛型高溫探針臺光學(xué)電學(xué)測試儀器
根據(jù)樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測試方式。
更新時(shí)間:2024-12-14
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺錦正茂高低溫真空探針臺高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-14
室溫探針臺實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測試儀器光學(xué)平臺
該類型的探針臺主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
更新時(shí)間:2024-12-14
JZM-D30室溫探針臺材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器
jzm-d30室溫探針臺材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺的諸多設(shè)計(jì)都是﹡用的，探針臺的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-12-14
高低溫真空探針臺材料測試電磁測試儀器
錦正茂高低溫真空探針臺應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2024-12-14
防爆云臺 隔爆云臺 礦用云臺
xf807-kba123型防爆云臺是隔爆型電器設(shè)備，適用于石油、化工等企業(yè)含有易燃、易爆氣體及可燃性混合物的場所。
更新時(shí)間:2024-12-13
擴(kuò)音呼叫電話機(jī) 終端機(jī) 礦用擴(kuò)音電話機(jī)
xf807-czh-9型擴(kuò)音電話終端機(jī)分為xf807-czh-9a型（適用于普通安全場所,在交流220v斷電后相當(dāng)于普通電話機(jī)照使用）和xf807-czh-9b型。
更新時(shí)間:2024-12-13
手動檢針器 檢針器
手動檢針器 檢針器可手動檢測鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬可手動檢測鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬。。
更新時(shí)間:2024-12-13
全自動四探針測試系統(tǒng)
可對樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試； 屏蔽測試，完全消除光線對樣品測試的影響，保證測量的準(zhǔn)確性； 吸附測試，完全消除全自動測試過程中樣品移動對測試的影響；
更新時(shí)間:2024-12-13
成套兩探針測試儀
按照我國標(biāo)準(zhǔn)gb/t1551-1995及美國材料與試驗(yàn)協(xié)會（astm）推薦的材料驗(yàn)收檢測方法“兩探針法”設(shè)計(jì)。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。
更新時(shí)間:2024-12-13
二探針測試儀
二探針測試儀是運(yùn)用二探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的儀器。
更新時(shí)間:2024-12-13
多功能數(shù)字式四探針測試儀
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。 主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率adc、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈設(shè)測試結(jié)果分類功能，大分類10類。
更新時(shí)間:2024-12-13
二探針排重?fù)綔y試筆 探針排重?fù)綔y試筆 排重?fù)綔y試筆
1、儀器供電：本儀器適用于220v電源，也可直接使用兩節(jié)12v電池供電。（好使用12v堿性電池），方便安全。判別準(zhǔn)確！ 2、電阻率測量范圍：0.1歐姆/厘米以下會自動報(bào)警。 3、測試方法：打開筆套，將測試筆針接觸被測原料，電阻率小于0.1歐姆/厘米時(shí)會自動報(bào)警，電阻率大于0.1歐姆/厘米不報(bào)警。
更新時(shí)間:2024-12-13
手持式檢針機(jī) 檢針機(jī)
可檢測小件服裝、手套、皮革、拉鏈等，也可以協(xié)助輸送帶機(jī)找出斷針小件服裝、絲襪、手套、皮革、拉鏈等物體
更新時(shí)間:2024-12-13
全自動四探針測試系統(tǒng)
可對樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試；
更新時(shí)間:2024-12-13
SJX電動臥式測試臺
sjx電動臥式測試臺一、sjx電動臥式測試臺的功能：    sjx電動臥式機(jī)臺是專為hf系列和nk系列推拉力計(jì)配套用的推拉負(fù)荷試驗(yàn)臺。本產(chǎn)品采用雙導(dǎo)桿結(jié)構(gòu)，具有穩(wěn)定性好，適用范圍廣
更新時(shí)間:2024-12-13
祥樹優(yōu)勢產(chǎn)品ODU 插針#祥樹趙工推薦
上海祥樹歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國工業(yè)控制自動化領(lǐng)域著/名的服務(wù)貿(mào)易商，專/業(yè)從事各種國外中高端的工控自動化產(chǎn)品的進(jìn)口貿(mào)易與工程服務(wù)。公司主要經(jīng)營來自歐洲、美國、日本等guo知名品牌的高精密編碼器、傳感器、儀器儀表及各類自動化產(chǎn)品，并被廣泛用于鋼鐵、冶金、能源、石化、礦山、港口、軌道交通等眾多行業(yè)的guo家重點(diǎn)企業(yè)。
更新時(shí)間:2024-12-12
祥樹優(yōu)勢產(chǎn)品STAHL 備件 #祥樹趙工推薦
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更新時(shí)間:2024-12-12
祥樹優(yōu)勢產(chǎn)品STAHL 電機(jī) #祥樹趙工推薦
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更新時(shí)間:2024-12-12
TS2000-DP Probe System 經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動高功率測試探針臺
ts2000-dp是mpi提供一套多功能且經(jīng)濟(jì)高效的8寸半自動高功率測試探針臺，可在20°c至300°c的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行晶圓載片上高功率應(yīng)用的測量，且測量能力高達(dá)3kv（三軸）/10kv（同軸）和600a（脈沖）。
更新時(shí)間:2024-12-10
TS300-SE Probe System MPI 手動晶圓探針臺系統(tǒng)（微屏蔽）
mpi ts300-shieldenvironment™（ts300-se）12英寸探針臺旨在對300mm晶圓及以下微小器件提供高emi / rfi /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能環(huán)境。 它以佳高度與防震臺結(jié)合在一起，使日常操作非常方便
更新時(shí)間:2024-12-10
TS200-SE Probe System MPI手動晶圓探針臺系統(tǒng)（微屏蔽）
mpi ts200-shieldenvironment™（ts200-se）8英寸探針臺可提供高emi / rfi /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能。
更新時(shí)間:2024-12-10
TS3500 Probe System 全自動晶圓探針臺系統(tǒng)
ts3500和ts3500-se 在功能上與mpi的已建立的 ts3000 和 ts3000-se 300毫米探針臺具有相同的功能，并通過配置或升mpi獨(dú)特的waferwallet™而具有完全自動化的功能。mpi的解決方案通過提供比其他供應(yīng)商的半自動化產(chǎn)品更少的完全自動化功能，降低了客戶的總體測試成本。
更新時(shí)間:2024-12-10
SiPH Probe System 半自動晶圓探針臺系統(tǒng)
mpi為其的ts2000-se，ts3000，ts3000-se，ts3500和ts3500-se探針系統(tǒng)設(shè)計(jì)了用的siph升，
更新時(shí)間:2024-12-10
TS3000 Probe System 半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)
mpi的ts3000是半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)，搭配獨(dú)特的可開放式下做高低溫測試，門為產(chǎn)品工程，故障分析，設(shè)計(jì)驗(yàn)證，晶圓可靠性以及rf和mmw應(yīng)用而設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2024-12-10
超低溫磁場探針臺
半自動真空低溫探針臺使晶圓和器件在低溫下9k(singleccr系統(tǒng))、4.5k(dualccr系統(tǒng))甚至低于4k(triple ccr系統(tǒng))的情況下能夠快速、經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行測試。低溫探針臺，設(shè)計(jì)用于支持在真空或氣體環(huán)境中對高達(dá)100mm、150mm或高達(dá)300mm的晶圓進(jìn)行自動動或半自動測試。 系統(tǒng)精度高、成本低、噪音低、使用方便。系統(tǒng)建立在一個(gè)振動補(bǔ)償?shù)亩喙δ芷脚_上，能夠配置來各種測試應(yīng)用程序。
更新時(shí)間:2024-12-10
納米探針臺
納米探測面臨的挑戰(zhàn)· 定位精度· 安全（軟）著陸接觸· 具有適當(dāng)尖端半徑的可靠探針頭· 清潔環(huán)境：試驗(yàn)箱、樣品、探針頭· 振動敏感性低· 噪聲抑制· 漂移補(bǔ)償· 電路編輯/延遲：在fib角度操作
更新時(shí)間:2024-12-10
三維磁場探針臺
更新時(shí)間:2024-12-10

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熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑