DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環(huán)保儀器批發(fā)零售DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下。在自動模式(AUTO)下,兩種原理可視測量的基體自動轉(zhuǎn)換,或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉(zhuǎn)換。
特性
1、可測量涂鍍層: ①磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度 ②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度
2、豐富的操作菜單
3、連續(xù)和單次測量方式
4、直接工作模式和組工作模式
5、可統(tǒng)計并顯示:平均值、大小值、標(biāo)準(zhǔn)方差、統(tǒng)計數(shù)
6、可進行一點或兩點校準(zhǔn)
7、可保存400個測量數(shù)據(jù)
8、USB連接并將數(shù)據(jù)傳輸至電腦
9、實時刪除測量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)
10、紅寶石探頭
11、低電和錯誤提示
12、可設(shè)置的自動關(guān)機功能
尺寸:113.5*54*27mm 重量:110g
配件 使用說明書×1 保修卡×1 AAA 7號電池×2 鐵磁基底×1 鋁塊基底×1 校準(zhǔn)薄片×3 USB連接線×1 軟件CD×1 便攜工具盒×1
DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環(huán)保儀器批發(fā)零售
德國EPK(Elektrophysik)公司
涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
技術(shù)特征 |
型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | ||||
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 |
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設(shè)寬容度極限值) | | 1 | 10 | 99 |
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù) | | 1 | 500 | 500 |
數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
MINITEST統(tǒng)計計算功能 | ||||
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ |
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ |
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) | | | | √ |
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | | | √ | √ |
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | | √ | √ | √ |
其他功能 | ||||
設(shè)置極限值 | | | √ | √ |
連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值 | | | √ | √ |
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | | | √ | √ |
連續(xù)測量模式中顯示最小值 | | | √ | √ |
可選探頭參數(shù)(探頭圖示) 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能 |
探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | 最小曲率半徑 (凸/凹) | 最小測量 區(qū)域直徑 | 最小基 體厚度 | 探頭尺寸 | |
磁 感 應(yīng) 法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
兩 用 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
電 渦 流 法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
GALVANOTEST庫侖鍍層測厚儀的介紹:
1. 可測實際應(yīng)用的所有鍍層
2. 利用庫侖電量分析原理,測量鍍層、多層鍍層
3. 符合國際標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177
GALVANOTEST 可以測量
70種以上鍍層/基體組合
預(yù)置9種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
X-strata960X射線熒光鍍層厚度測量儀
基于25年涂鍍層測量經(jīng)驗,在CMI900系列測厚儀的堅實基礎(chǔ)上,引進的設(shè)計:
•;新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度,同時減少50%測量時間
•;更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準(zhǔn)直器,可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置,同時提供更高精度的Y軸控制。
•;距離獨立測量(DIM) - 更靈活地特殊形狀樣品,可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm(0.5-3.5inch)對樣品表面進行測量,Z軸可控制范圍為230mm(9inch)?赏ㄟ^手動調(diào)整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準(zhǔn)。
•;自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離,改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標(biāo)準(zhǔn)的鐳射聚焦模式。
•;的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),開槽式設(shè)計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。
•;3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制(250x250mm或10x10英寸)/固定樣品臺;標(biāo)準(zhǔn)配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
•;內(nèi)置PC用戶界面
X-Strata 960測厚儀
主要應(yīng)用領(lǐng)域:
用于高精度要求的別測厚儀
電路板/半導(dǎo)體/連接器端子/五金貴金屬電鍍
(如1.0uinch Au,Ag…)
主要特點:
X-Strata 960 X熒光射線測厚儀,可快速測定各種材料構(gòu)成
的多層鍍層厚度和元素組成。長壽命100瓦微焦點X射線管
(其它測厚儀為50瓦)。提高30%分析精度和減少50%的分
析時間三種樣品臺可供選擇:程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm;
手動XY軸:250 x 250mm+230mm程控Z軸;固定位置樣品臺,
最大高度230 mm更小準(zhǔn)直器,測量更小區(qū)域:最小直徑15um
圓形準(zhǔn)直器,20x/80xCCD圖像放大倍數(shù)自由距離測量DIM:
更靈活地測量不規(guī)則樣品(凹凸),在12.5~102mm自由聚
焦范圍內(nèi)可聚焦樣品表面任意測量點。并有自動雷射
聚焦功能 一體機工作站式設(shè)計,簡化設(shè)備安裝,減少占用
空間。
儀器介紹:
960系列 X射線熒光測厚儀樣品臺采用箱體式設(shè)計‘能
測量多種幾何形體、各種尺寸的樣品’,測定方法滿足
ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987
技術(shù)參數(shù):
元素范圍: Ti22 – U92 同時分析層數(shù)和元素定量:5層
(4層+基體);最多同時15種元素定量
X射線激發(fā):100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管
(可選鉬靶X射線管)
X射線檢測: Xe封氣正比計數(shù)器,可最多裝備3種二次
濾光片
準(zhǔn)直器: 最多4種,多種規(guī)格備選樣品形態(tài): 電鍍、
涂鍍、薄膜、合金、液體、等等
數(shù)字脈沖處理器:4096通道數(shù)字多道分析器,包含自動
波譜校正和Pulse Pile Rejection功能
CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz
工作環(huán)境: 10-40℃、相對濕度小于98%,無冷凝水
樣品臺移動量: 程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm; 手
動XY軸:250 x 250mm+230mm程控Z軸
儀器尺寸:H744 x W686 x D813
重量: 160公斤
涂鍍層測厚儀 型號:M303497 | 貨號: |
詳細(xì)介紹: BSK-05-TT220數(shù)字式涂層測厚儀采用磁性測厚法,它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量?蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小,測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。 主要功能: 可對測頭進行基本校準(zhǔn);可進行零點校準(zhǔn)及二點校準(zhǔn); 設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。 可存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。 具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。 自動關(guān)機功能。 刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進行新的測量。 操作過程有蜂鳴聲提示。 有欠壓指示功能。 有錯誤提示功能。 技術(shù)參數(shù): 測量范圍(µm) 待測基體最小曲率半徑 (mm) 基體最小面積的直徑(mm) 基體最小面積的直徑(mm) 低限分辨力(µm) 示值誤差(µm) 零點校準(zhǔn) 二點校準(zhǔn) 0~1250 凸1.5 凹9 Æ7 1 ±(3%H+1) ±[(1%~ 3%)H+1] 基本配置 TT220主機 1臺 標(biāo)準(zhǔn)樣片 5片 標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊 充電器 1個 選購件 TA230打印機 1臺 TA510線纜 1根 |
CMI900 無損電鍍 膜厚測試儀,鍍層測厚儀 專業(yè)測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量,快速 無損,業(yè)內(nèi)廣受好評,客戶應(yīng)
用廣泛在 五金 連接器 PCB LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標(biāo)準(zhǔn)。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系 測量量樣品 洽談往來 本公司經(jīng)營多年工程師經(jīng)驗豐富,商業(yè)合作個方式靈活。
金屬鍍層厚度測量, 例如Zn;Cr; Cu; Ag; Au;Sn等 合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測量, 例如: SnPb; ZnNi; 及NiP(無電浸鎳)在Fe上等 合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測量, 例如: AuCuCd在Ni上等 雙鍍層厚度測量, 例如:Au/Ni在Cu 上; Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黃銅上等 雙鍍層厚度測量(其中一層是合金層), 例如: SnPb/Ni或Au/PdNi在青銅上等 三鍍層, 例如: Cr/Ni/Cu在塑膠或在鐵上
PCB LED 連接器等行業(yè) gold flash/ Nip / Cu 或 Au / Pdni / Cu ~~ Ag / Ni / Cu / Ni / Cu 等常見應(yīng)用
儀器介紹CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域
,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900主機的自動化控制, PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)技術(shù)參數(shù):CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0。025um (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求 ;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D :統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X
-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;E :可測量任一測量點,最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀
FISCHER 菲希爾金屬鍍層測厚儀只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選.可測量各類金屬層、合金層厚度. 可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U) ,可測量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8μm 26-40,0.05-35μm 43-52,0.1-100μm 72-82,0.05-5μm X-射線管:油冷,超微細(xì)對焦高壓:0-50KV(程控) 電腦系統(tǒng):IBM相容,17”顯示器 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析; 鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層;鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液;定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 金屬鍍層測厚儀對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度. 統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).