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TC210TC210涂鍍層測厚儀

 

一.產(chǎn)品概述:
TC210涂鍍層測厚儀  測量范圍:0~1200um,是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測量、體積小、重量輕;且具有存儲、讀出、統(tǒng)計、低電壓指示、零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn),其性能達(dá)到當(dāng)代國際同類儀器的水平。
二.功能特點:
TC210涂層測厚儀 采用磁性測厚法,可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、橡膠、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
TC210涂層測厚儀 采用電磁感應(yīng)法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂鍍層厚度。
三.技術(shù)參數(shù):
1、測量范圍 :  0~1200um
2、測量誤差:  <3%±1um
3、最小示值:  1um
4、顯示方式 :    4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能:
   (1).測量:     單探頭全量程測厚
   (2).存儲、刪除: 可存入測量數(shù)據(jù)254個,對測量中的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可以刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。
   (3).讀:  讀出已存入的測量數(shù)據(jù)
   (4).統(tǒng)計: 設(shè)有三個統(tǒng)計量,平均值最大值最小值
   (5).校準(zhǔn): 可進行零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)
   (6).電量: 具有欠壓顯示功能
   (7).蜂鳴提示:操作過程中有蜂鳴提示
   (8).打印:可打印測量值,選配微型打印機
   (9).關(guān)機:具有自動關(guān)機和手動關(guān)機兩種方法
6、電源:        兩節(jié)1.5v電池
7、功耗:         最大功耗100mw
8、外形盡寸:     50mm*121mm*24mm
9、重量:      90g
10、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃ 相對濕度:不大于90%
11、基體最小厚度:     0.2mm
12、基體最小平面:     7mm
13、最小曲率半徑:     凸:1.5mm      凹:6mm
14、欠電壓指示:       左下角顯示"欠"
*臨界厚度小:工件鐵基厚度大于1mm時,其涂(鍍)層厚度的測量不受鐵基厚度影響。
 
四.基本配置:
 1、TC210涂層測厚儀
 2、七號電池
 3、探頭
 4、標(biāo)準(zhǔn)樣片
 5、鋼銼
 6、儀器箱
 7、說明書、合格證
 五可選配件:                                                               
 1、打印機及通訊打印連線
 2、微機通訊軟件
 3、內(nèi)防腐探頭
該公司產(chǎn)品分類: 光化學(xué)反應(yīng)釜/光解儀 單色儀 高強氙燈光源 IPCE IPCE 光源 電化學(xué)工作站 微弱信號處理 光纖等光學(xué)配件 帶通濾光片 紫外分光光度計 汞氙燈

涂鍍層測厚儀

 

產(chǎn)品名稱   涂鍍層測厚儀
        牌:   德國QuaNix (尼克斯)
        能: Δ 磁性(Fe)探針測量鋼、鐵等基體上的非磁性涂鍍層的厚度;
              如油漆層、塑料、橡膠、合成材料、瓷、磷化層、鉻、鋅、鋁、
              錫等;
                                      Δ 非鐵磁性NFe)探針測量銅、鋁、不銹鋼等基體上非導(dǎo)電層的
                                      厚度,如油漆層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、氧化層等。
探頭使用: 探針可選擇:a.一體探針;b.連線探針;c.無線探針(≤10米)
顯示方式   LCD數(shù)字顯示
測量范圍:   0-2000μm    0-5000μm   (選擇不同的探頭)
        點:   零點不漂移,具有穩(wěn)定的測量基準(zhǔn)點;
                      機內(nèi)自動校準(zhǔn),無需使用標(biāo)準(zhǔn)片,避免標(biāo)準(zhǔn)片造成的誤差;
                      溫度自動補償,不同溫度下測量值的一致性;
                      直流采樣技術(shù),提高測量的重復(fù)性;
                     自動開、關(guān)機;無任何按鍵;具有超限報警功能;
                      可以選配各種探頭;
                     QuaNix 8500獲得多項國際專利和質(zhì)量認(rèn)證。
測量精度   0-2000μm:≤±2%    2000-5000μm:≤±3%
顯示精度:   0-999μm: 0.1μm    1000μm以上: 0.01μm
最小基體:   Fe: 20mm×20mm NFe: 20mm×20mm
最薄基體:   Fe: 0.2mm       NFe: 0.05mm
最小曲率:   凸半徑:5mm     凹半徑:30mm
存儲功能:   100個讀數(shù),1個數(shù)據(jù)組    統(tǒng)計:平均值,最大值,最小值,
                       標(biāo)準(zhǔn)偏差
儲存溫度:   -10℃ -60℃
菜單語言:   可預(yù)置3種語言
單位顯示:   μm/mil(公/英制)
溫度補償:   0℃ -60℃
        源:   2節(jié)1.5V干電池
機器尺寸:   124mm×67mm×33mm
        量:   120g
售后服務(wù):   一年保修  

 

網(wǎng)址:www.hf9958.com
郵箱:hhf995858@163.com
該公司產(chǎn)品分類: 設(shè)備類 消毒類 儀器類

DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀

 DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環(huán)保儀器批發(fā)零售

DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環(huán)保儀器批發(fā)零售DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下。在自動模式(AUTO)下,兩種原理可視測量的基體自動轉(zhuǎn)換,或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉(zhuǎn)換。

 特性 

1、可測量涂鍍層:      ①磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度      ②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度 

2、豐富的操作菜單 

3、連續(xù)和單次測量方式 

4、直接工作模式和組工作模式

 5、可統(tǒng)計并顯示:平均值、大小值、標(biāo)準(zhǔn)方差、統(tǒng)計數(shù)

6、可進行一點或兩點校準(zhǔn) 

7、可保存400個測量數(shù)據(jù) 

8、USB連接并將數(shù)據(jù)傳輸至電腦

 9、實時刪除測量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù) 

10、紅寶石探頭

 11、低電和錯誤提示 

12、可設(shè)置的自動關(guān)機功能

 尺寸:113.5*54*27mm 重量:110g 

配件 使用說明書×1 保修卡×1 AAA 7號電池×2 鐵磁基底×1 鋁塊基底×1 校準(zhǔn)薄片×3 USB連接線×1 軟件CD×1 便攜工具盒×1

DT-156 便攜式涂鍍層測厚儀價格北京美特邇環(huán)保儀器批發(fā)零售

該公司產(chǎn)品分類: 水準(zhǔn) 儀 張力儀 測堵儀 漏電開關(guān)測試儀 金屬探測器 SF6檢測儀 磁場測試儀 電能質(zhì)量分析儀 功率計 電阻計 臺式萬用表 阻抗分析儀 LCR測試儀 數(shù)據(jù)采集儀 鹵素檢漏儀 電流傳感器 數(shù)字壓力表 PH計 溶氧儀 TDS水質(zhì)分析儀

MiniTest1100涂鍍層測厚儀

 德國EPK(Elektrophysik)公司

涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

技術(shù)特征
型號
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設(shè)寬容度極限值)
 
1
10
99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)
 
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
 
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
 
 
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
 
 
 
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
 
 
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
 
其他功能
設(shè)置極限值
 
 
連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值
 
 
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
 
 
連續(xù)測量模式中顯示最小值
 
 

 

可選探頭參數(shù)(探頭圖示) 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
量程
低端 分辨率
誤差
最小曲率半徑 (凸/凹)
最小測量 區(qū)域直徑
最小基 體厚度
探頭尺寸
磁 感 應(yīng) 法
 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm
兩 用
 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm/N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
電 渦 流 法
 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
50μm
φ15x62mm
N2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

該公司產(chǎn)品分類: 其他 光電子科技產(chǎn)品 金屬探測器 勞保產(chǎn)品 工具 地質(zhì)儀器 其它 物位計 液位計 流量儀表 轉(zhuǎn)速表 內(nèi)窺鏡 檢測儀/校準(zhǔn)儀 汽車檢測及外圍產(chǎn)品 多功能測試儀 驗電器 天平 鉗形表 示波器 電纜故障測試儀

GALVANOTEST電解破壞式庫侖鍍層測厚儀

 GALVANOTEST庫侖鍍層測厚儀的介紹:

1.     可測實際應(yīng)用的所有鍍層

2.     利用庫侖電量分析原理,測量鍍層、多層鍍層

3.     符合國際標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177

 GALVANOTEST 可以測量

70種以上鍍層/基體組合

預(yù)置9種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。

從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。

該公司產(chǎn)品分類: 液相色譜儀 氣相色譜儀 色譜儀 防腐蝕隔膜真空泵 過濾支架 過濾器 真空泵 測厚儀 意大利倍爾 電子天平 質(zhì)譜儀 色譜儀 紅外光譜儀 紫外可見分光光度計 ICP光譜儀 原子吸收光譜儀 美國perkinelmer X射線熒光光譜儀 火花直讀光譜儀 光譜儀

X-strata960涂鍍層測厚儀

X-strata960X射線熒光鍍層厚度測量儀

基于25年涂鍍層測量經(jīng)驗,在CMI900系列測厚儀的堅實基礎(chǔ)上,引進的設(shè)計:

&#8226;新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的的X射線管。提高30%測量精度,同時減少50%測量時間

&#8226;更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準(zhǔn)直器,可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置,同時提供更高精度的Y軸控制。

&#8226;距離獨立測量(DIM) - 更靈活地特殊形狀樣品,可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm(0.5-3.5inch)對樣品表面進行測量,Z軸可控制范圍為230mm(9inch)?赏ㄟ^手動調(diào)整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準(zhǔn)。

&#8226;自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離,改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標(biāo)準(zhǔn)的鐳射聚焦模式。

&#8226;的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),開槽式設(shè)計可容納超大尺寸的樣品。可從各個方向簡便的裝載和觀察樣品。

&#8226;3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制(250x250mm或10x10英寸)/固定樣品臺;標(biāo)準(zhǔn)配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。

&#8226;內(nèi)置PC用戶界面 

 

X-Strata 960測厚儀

主要應(yīng)用領(lǐng)域:

用于高精度要求的別測厚儀

電路板/半導(dǎo)體/連接器端子/五金貴金屬電鍍

(如1.0uinch Au,Ag…)

 

主要特點:

X-Strata 960 X熒光射線測厚儀,可快速測定各種材料構(gòu)成

的多層鍍層厚度和元素組成。長壽命100瓦微焦點X射線管

(其它測厚儀為50瓦)。提高30%分析精度和減少50%的分

析時間三種樣品臺可供選擇:程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm;

手動XY軸:250 x 250mm+230mm程控Z軸;固定位置樣品臺,

最大高度230 mm更小準(zhǔn)直器,測量更小區(qū)域:最小直徑15um

圓形準(zhǔn)直器,20x/80xCCD圖像放大倍數(shù)自由距離測量DIM:

更靈活地測量不規(guī)則樣品(凹凸),在12.5~102mm自由聚

焦范圍內(nèi)可聚焦樣品表面任意測量點。并有自動雷射

聚焦功能 一體機工作站式設(shè)計,簡化設(shè)備安裝,減少占用

空間。

 

 

儀器介紹:

960系列 X射線熒光測厚儀樣品臺采用箱體式設(shè)計‘能

測量多種幾何形體、各種尺寸的樣品’,測定方法滿足

ISO3497、 ASTM B568和DIN 50987

 

 

技術(shù)參數(shù):

元素范圍: Ti22 – U92 同時分析層數(shù)和元素定量:5層

(4層+基體);最多同時15種元素定量

X射線激發(fā):100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管

(可選鉬靶X射線管)

X射線檢測: Xe封氣正比計數(shù)器,可最多裝備3種二次

濾光片

準(zhǔn)直器: 最多4種,多種規(guī)格備選樣品形態(tài): 電鍍、

涂鍍、薄膜、合金、液體、等等

數(shù)字脈沖處理器:4096通道數(shù)字多道分析器,包含自動

波譜校正和Pulse Pile Rejection功能

CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch

電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz

工作環(huán)境: 10-40℃、相對濕度小于98%,無冷凝水

樣品臺移動量: 程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm; 手

動XY軸:250 x 250mm+230mm程控Z軸

儀器尺寸:H744 x W686 x D813

重量: 160公斤

TT210TT210鍍層測厚儀

涂層測厚儀功能特點
  • 采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量
    1. 磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)
    2. 非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
  • 具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
  • 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
  • 設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差
  • 可采用兩種方法對儀器進行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正
  • 具有存貯功能:可存貯500 個測量值
  • 具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
  • 可設(shè)置限界:對限界外的測量值能自動報警;并可用直方圖對一批測量值進行分析
  • 具有打印功能:可打印測量值、統(tǒng)計值、限界、直方圖
  • 具有與PC 機通訊的功能:可將測量值、統(tǒng)計值傳輸至PC 機,以便對數(shù)據(jù)進行進一步處理
  • 具有電源欠壓指示功能
  • 操作過程有蜂鳴聲提示
  • 具有錯誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示
  • 設(shè)有兩種關(guān)機方式:手動關(guān)機方式和自動關(guān)機方式
涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)
  • 測頭類型:F | N
  • 測量原理:磁感應(yīng) | 電渦流
  • 測量范圍:0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻)
  • 低限分辨力:0.1um
  • 探頭連接方式:一體化
  • 示值誤差:F | N
    1. 一點校準(zhǔn)(um):±[3%H+1]
    2. 兩點校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1]
    1. 一點校準(zhǔn)(um):±[3%H+1.5]
    2. 兩點校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1.5]
  • 測量條件:F | N
    1. 最小曲率半徑(mm):凸1.5 | 凹9
    2. 基體最小面積的直徑(mm):ф7
    3. 最小臨界厚度(mm):0.5
    1. 最小曲率半徑(mm):凸3 | 凹10
    2. 基體最小面積的直徑(mm):ф5
    3. 最小臨界厚度(mm):0.3
  • 溫濕度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
  • 統(tǒng)計功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差
  • 工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
  • 測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
  • 上下限設(shè)置:有
  • 存儲能力:500個測量值
  • 打印/連接計算機:可選配打印機/不能連接電腦
  • 關(guān)機方式:手動和自動
  • 電源:二節(jié)AAA型(7號)1.5V電池
  • 外形尺寸:110×50×23mm
  • 重量:100g
涂層測厚儀基本配置
  • 主機
  • 鐵基體和鋁基體
  • 標(biāo)準(zhǔn)片一套|五片
  • 二節(jié)AA型(5號)1.5V電池
  • 儀器保護套
  • 使用說明書
該公司產(chǎn)品分類: 臭氧檢測儀 轉(zhuǎn)速表 測振儀 激光測距儀 超聲波測距儀 超聲波測厚儀 涂層測厚儀 超聲波流量計 粗糙度儀 超聲波探傷儀 線纜測高儀 金屬探測器 耐壓絕緣測試儀 LCR測試儀 靜電檢測儀 絕緣電阻測試儀 靜電電壓表 接地電阻測試 表面探頭 液體探頭

涂鍍層測厚儀 型號:M303497

涂鍍層測厚儀 型號:M303497 貨號:
詳細(xì)介紹: BSK-05-TT220數(shù)字式涂層測厚儀采用磁性測厚法,它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量?蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小,測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。 主要功能: 可對測頭進行基本校準(zhǔn);可進行零點校準(zhǔn)及二點校準(zhǔn); 設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。 可存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。 具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。 自動關(guān)機功能。 刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進行新的測量。 操作過程有蜂鳴聲提示。 有欠壓指示功能。 有錯誤提示功能。 技術(shù)參數(shù): 測量范圍(µm) 待測基體最小曲率半徑 (mm) 基體最小面積的直徑(mm) 基體最小面積的直徑(mm) 低限分辨力(µm) 示值誤差(µm) 零點校準(zhǔn) 二點校準(zhǔn) 0~1250 凸1.5 凹9 Æ7 1 ±(3%H+1) ±[(1%~ 3%)H+1] 基本配置 TT220主機 1臺 標(biāo)準(zhǔn)樣片 5片 標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊 充電器 1個 選購件 TA230打印機 1臺 TA510線纜 1根  

鍍層測厚儀

CMI900 無損電鍍 膜厚測試儀,鍍層測厚儀 專業(yè)測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量,快速 無損,業(yè)內(nèi)廣受好評,客戶應(yīng)

用廣泛在 五金 連接器 PCB  LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標(biāo)準(zhǔn)。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系 測量量樣品 洽談往來 本公司經(jīng)營多年工程師經(jīng)驗豐富,商業(yè)合作個方式靈活。

金屬鍍層厚度測量, 例如Zn;Cr;  Cu;  Ag;  Au;Sn等  合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測量,  例如:  SnPb;  ZnNi;  及NiP(無電浸鎳)在Fe上等 合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測量,  例如:  AuCuCd在Ni上等 雙鍍層厚度測量,  例如:Au/Ni在Cu  上;  Cr/Ni在Cu上;Au/Ag在Ni上;Sn/Cu在黃銅上等 雙鍍層厚度測量(其中一層是合金層),  例如:  SnPb/Ni或Au/PdNi在青銅上等 三鍍層,  例如:  Cr/Ni/Cu在塑膠或在鐵上

PCB LED 連接器等行業(yè) gold flash/ Nip / Cu 或  Au / Pdni / Cu  ~~  Ag / Ni / Cu / Ni  / Cu  等常見應(yīng)用

儀器介紹CMI 900  系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層  厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域

,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900主機的自動化控制, PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)技術(shù)參數(shù):CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)A  CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0。025um  (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求 ;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D :統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X

-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;E :可測量任一測量點,最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀

該公司產(chǎn)品分類: 光譜儀 膜厚測試儀

XDL,XDLM菲希爾金屬鍍層測厚儀

FISCHER 菲希爾金屬鍍層測厚儀只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選.可測量各類金屬層、合金層厚度. 可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U) ,可測量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8μm 26-40,0.05-35μm 43-52,0.1-100μm 72-82,0.05-5μm X-射線管:油冷,超微細(xì)對焦高壓:0-50KV(程控) 電腦系統(tǒng):IBM相容,17”顯示器  綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析;  鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層;鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液;定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 金屬鍍層測厚儀對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度. 統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).

該公司產(chǎn)品分類: 涂層測厚儀 鍍層測厚儀 膜厚儀 菲希爾

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑