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ST8000光學(xué)薄膜測(cè)厚儀

ST8000光學(xué)薄膜測(cè)厚儀是把UV-Vis光照在測(cè)量對(duì)象上，利用從測(cè)量對(duì)象中反射出來(lái)的光線測(cè)量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導(dǎo)電體薄膜現(xiàn)場(chǎng)，特別在半導(dǎo)體及有關(guān)Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。ST8000光學(xué)薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品特性

1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。

2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3) 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。

4) 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。

5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。

6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品。

7)可測(cè)量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)用于特殊領(lǐng)域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a

該公司產(chǎn)品分類： 水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀 其它基礎(chǔ)儀表 其它測(cè)量/計(jì)量?jī)x器 生物顯微鏡 激光拉曼光譜(RAMAN) 表面阻抗 蠕動(dòng)泵 電化學(xué)工作站、恒電位儀 液體處理工作站(移液工作站) 在線測(cè)厚儀 生物芯片、芯片掃描儀、芯片點(diǎn)樣儀、芯片檢測(cè)儀 微波、電、磁學(xué)量的測(cè)量?jī)x表 微流控芯片 等離子體表面處理儀 橢偏儀 鎖相放大器 其它動(dòng)物實(shí)驗(yàn)儀器 白光干涉測(cè)厚儀 掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM） 紫外、紫外分光光度計(jì)、紫外可見分光光度計(jì)、UV

497型德國(guó)儀力信 497型薄膜測(cè)厚儀

目的和應(yīng)用

薄膜測(cè)厚儀用于以下兩個(gè)領(lǐng)域：它可用于測(cè)量金屬箔片、塑料薄膜、紙板、紙張和其它薄片的厚度。第二個(gè)也是更重要的應(yīng)用為測(cè)量薄基材上的涂層材料厚度。如果基材為非金屬那么磁性或電子測(cè)量方法便不能應(yīng)用。對(duì)于非破壞測(cè)量，此儀器是可能的測(cè)量差異方法。此儀器的一個(gè)特別重要的應(yīng)用領(lǐng)域?yàn)椋核捎糜?ldquo;Leneta”薄膜的耐擦洗測(cè)試。符合德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)DIN 53 778第二部分和用于顏色測(cè)量與遮蓋力的黑白對(duì)照卡。適用的儀器為：微處理控制涂膜和干燥時(shí)間計(jì)509/MC，儀力信耐擦洗儀494#，涂膜器288#、358#、360#、411#、421#，測(cè)試卡451#，亮度計(jì)517#。

測(cè)試原理

薄膜的厚度可通過(guò)一個(gè)剛性表面和一個(gè)可提升彈簧壓力的沖頭之間測(cè)出，可直接從表盤上讀出讀數(shù)。

設(shè)計(jì)和功用

497型薄膜測(cè)厚儀為一小型、便攜、高精度的測(cè)量范圍。它由帶支撐面的測(cè)量托架、沖頭，帶零位設(shè)置的表盤、把手和拇指壓力桿組成，托架剛度很高，把手和表盤之間絕熱。儀器裝在一個(gè)塑料保護(hù)盒中。

測(cè)試程序

壓下拇指杠桿，測(cè)試頭將抬起，樣品放在支持面和沖頭之間，沖頭慢慢放下，結(jié)果從刻度上讀出。

技術(shù)數(shù)據(jù)

凈重： 約100 g測(cè)量范圍： 0~1000 m0~200 m帶1 m的分刻度讀數(shù)精度： ±1 m頸部深度： 30 mm支持面尺寸： 約 6 mm，面積＝約30 mm2 測(cè)量壓力： 約1.2 N＝約0.04 N/mm2

訂貨信息訂貨號(hào) 概述0014.01.31 497型薄膜測(cè)厚儀

薄膜測(cè)厚儀

活動(dòng)范圍150 x 120mm(70 x 50mm 移動(dòng)距離)
 測(cè)量范圍 200å~ 35μm(根據(jù)膜的類型)
 光斑尺寸 20å 典型值
 測(cè)量速度 1~2 sec./site
 應(yīng)用領(lǐng)域

 聚合體: pva, pet, pp, pr ...

 電解質(zhì):

 半導(dǎo)體: poly-si, gaas, gan, inp, zns...

 選擇 參考樣品(k-mac or kriss or nist)
 探頭類型 三目探頭
 nosepiece quadruple revolving mechanism with inward tilt
 照明類型 12v 35w halogen lamp built-in control device & transformer

SGC-10薄膜測(cè)厚儀（薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)測(cè)量系統(tǒng)）

   通過(guò)分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜，用相應(yīng)的軟件來(lái)擬合運(yùn)算，得到單層或多層膜系各層的厚度d，折射率n，消光系數(shù)k。該設(shè)備關(guān)鍵部件均為國(guó)外進(jìn)口，也可根據(jù)客戶需要整機(jī)進(jìn)口。

儀器特點(diǎn)

1  非接觸式測(cè)量，用光纖探頭來(lái)接收反射光，不會(huì)破壞和污染薄膜；

2  測(cè)量速度快，測(cè)量時(shí)間為秒的量級(jí)；

3  可用來(lái)測(cè)薄膜厚度，也可用來(lái)測(cè)量薄膜的折射率n和消光吸收k；

4  可測(cè)單層薄膜，還可測(cè)多層膜系；

5  可廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)，半導(dǎo)體，液晶等透明半透明薄膜材料；

6  軟件的材料庫(kù)中整合了大量材料的折射率和消光系數(shù)，可供用戶參考；

7  內(nèi)嵌微型光纖光譜儀，結(jié)構(gòu)緊湊, 光纖光譜儀也可單獨(dú)使用。

參數(shù)和性能指標(biāo)

厚度范圍： 20nm-50um（只測(cè)膜厚），100nm-25um（同時(shí)測(cè)量膜厚和光學(xué)常數(shù)n，k）

度：     <1nm或<0.5%

重復(fù)性：     0.1nm

波長(zhǎng)范圍： 380nm-1000nm

可測(cè)層數(shù)： 1-4層

樣品尺寸： 樣品鍍膜區(qū)直徑>1.2mm

測(cè)量速度： 5s-60s

光斑直徑： 1.2mm-10mm可調(diào)

 

儀器成套性

測(cè)厚儀主體（內(nèi)含光源和光纖光譜儀），光纖跳線，光纖探頭，標(biāo)準(zhǔn)硅片，支撐部件，配套軟件

可擴(kuò)展性

通過(guò)光纖連接帶有C口的顯微鏡，就可以使本測(cè)量?jī)x適用于微區(qū)（>10um）薄膜厚度的測(cè)量。

 

強(qiáng)大的軟件功能

界面友好，操作簡(jiǎn)便；

可保存測(cè)量得到的反射譜；

可讀取保存的反射率數(shù)據(jù)；

可選擇是否測(cè)量折射率n，消光系數(shù)k；

可選擇光譜范圍；

可猜測(cè)薄膜厚度以節(jié)省測(cè)量時(shí)間；

可從大量的材料庫(kù)中選擇薄膜和基底的材料；

用戶可自己擴(kuò)充材料庫(kù)。

同類產(chǎn)品鏈接：

SGC-2 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀　http://www.tjgd.com/view/product.asp?id=147

SGC-1A 橢圓偏振測(cè)厚儀　　http://www.tjgd.com/view/product.asp?id=50

CH－1－S西安唯信 CH－1－S型薄膜測(cè)厚儀

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介    本測(cè)厚議適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。二、技術(shù)指標(biāo)    量    程：0-1mm　    分 度 值：0.001mm    上測(cè)頭曲率半徑：15-50mm    測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我：0.1-0.5N    測(cè)量精度：100vm以內(nèi)＜1vm              100-250vm＜2vm              250vm＜3vm

 

該公司產(chǎn)品分類： 唯信 氣體分析儀 電砂浴 HS-19A型肖氏硬度計(jì) 恒溫水箱 汽車檢測(cè)儀器 孵化設(shè)備 環(huán)保儀器 電子天平 長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x 顯微鏡 量具量?jī)x 紡織儀器 造紙包裝檢測(cè)儀器 公路、建筑檢測(cè)儀器 氣體檢測(cè)儀器 油漆涂料類檢測(cè)儀器 實(shí)驗(yàn)室常用儀器 環(huán)境、水質(zhì)檢測(cè)儀器 光譜色譜儀

ST8000光學(xué)薄膜測(cè)厚儀

ST8000光學(xué)薄膜測(cè)厚儀是把UV-Vis光照在測(cè)量對(duì)象上，利用從測(cè)量對(duì)象中反射出來(lái)的光線測(cè)量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導(dǎo)電體薄膜現(xiàn)場(chǎng)，特別在半導(dǎo)體及有關(guān)Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。ST8000光學(xué)薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品特性

1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞剑允欠墙佑|式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。

2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3) 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。

4) 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。

5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。

6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品。

7)可測(cè)量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)用于特殊領(lǐng)域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a

該公司產(chǎn)品分類： 恒流泵 恒壓恒流進(jìn)樣泵 微流控

SGC-10薄膜測(cè)厚儀（薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)測(cè)量系統(tǒng)）

   通過(guò)分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜，用相應(yīng)的軟件來(lái)擬合運(yùn)算，得到單層或多層膜系各層的厚度d，折射率n，消光系數(shù)k。該設(shè)備關(guān)鍵部件均為國(guó)外進(jìn)口，也可根據(jù)客戶需要整機(jī)進(jìn)口。

儀器特點(diǎn)

1  非接觸式測(cè)量，用光纖探頭來(lái)接收反射光，不會(huì)破壞和污染薄膜；

2  測(cè)量速度快，測(cè)量時(shí)間為秒的量級(jí)；

3  可用來(lái)測(cè)薄膜厚度，也可用來(lái)測(cè)量薄膜的折射率n和消光吸收k；

4  可測(cè)單層薄膜，還可測(cè)多層膜系；

5  可廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)，半導(dǎo)體，液晶等透明半透明薄膜材料；

6  軟件的材料庫(kù)中整合了大量材料的折射率和消光系數(shù)，可供用戶參考；

7  內(nèi)嵌微型光纖光譜儀，結(jié)構(gòu)緊湊, 光纖光譜儀也可單獨(dú)使用。

參數(shù)和性能指標(biāo)

厚度范圍： 20nm-50um（只測(cè)膜厚），100nm-25um（同時(shí)測(cè)量膜厚和光學(xué)常數(shù)n，k）

度：     <1nm或<0.5%

重復(fù)性：     0.1nm

波長(zhǎng)范圍： 380nm-1000nm

可測(cè)層數(shù)： 1-4層

樣品尺寸： 樣品鍍膜區(qū)直徑>1.2mm

測(cè)量速度： 5s-60s

光斑直徑： 1.2mm-10mm可調(diào)

 

儀器成套性

測(cè)厚儀主體（內(nèi)含光源和光纖光譜儀），光纖跳線，光纖探頭，標(biāo)準(zhǔn)硅片，支撐部件，配套軟件

可擴(kuò)展性

通過(guò)光纖連接帶有C口的顯微鏡，就可以使本測(cè)量?jī)x適用于微區(qū)（>10um）薄膜厚度的測(cè)量。

 

強(qiáng)大的軟件功能

界面友好，操作簡(jiǎn)便；

可保存測(cè)量得到的反射譜；

可讀取保存的反射率數(shù)據(jù)；

可選擇是否測(cè)量折射率n，消光系數(shù)k；

可選擇光譜范圍；

可猜測(cè)薄膜厚度以節(jié)省測(cè)量時(shí)間；

可從大量的材料庫(kù)中選擇薄膜和基底的材料；

用戶可自己擴(kuò)充材料庫(kù)。

同類產(chǎn)品鏈接：

SGC-2 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀　http://www.tjgd.com/view/product.asp?id=147

SGC-1A 橢圓偏振測(cè)厚儀　　http://www.tjgd.com/view/product.asp?id=50

薄膜測(cè)厚儀

活動(dòng)范圍150 x 120mm(70 x 50mm 移動(dòng)距離)
 測(cè)量范圍 200å~ 35μm(根據(jù)膜的類型)
 光斑尺寸 20å 典型值
 測(cè)量速度 1~2 sec./site
 應(yīng)用領(lǐng)域

 聚合體: pva, pet, pp, pr ...

 電解質(zhì):

 半導(dǎo)體: poly-si, gaas, gan, inp, zns...

 選擇 參考樣品(k-mac or kriss or nist)
 探頭類型 三目探頭
 nosepiece quadruple revolving mechanism with inward tilt
 照明類型 12v 35w halogen lamp built-in control device & transformer

xy-ch600薄膜測(cè)厚儀

我公司長(zhǎng)年供應(yīng)薄膜測(cè)厚儀紅外薄膜測(cè)厚儀的相關(guān)技術(shù)參數(shù)如下所示：一、系統(tǒng)功能：連續(xù)對(duì)薄膜斷面掃描，給出厚度尺寸，計(jì)算機(jī)進(jìn)行信號(hào)采集、數(shù)據(jù)處理、圖形顯示、報(bào)警等功能。二、系統(tǒng)配置：工控機(jī)、1200毫米寬平面掃描機(jī)構(gòu)、探頭、數(shù)據(jù)處理單元。工控機(jī)配置：8255卡、AD/DA卡，主板：FSC-1711VN/機(jī)箱：IPC810A/CPU：PⅣ2.4/內(nèi)存：DDR256M/硬盤：80G/軟驅(qū)：三星/光驅(qū)：52x/顯示器：PHILIPS 107F5。三、具體指標(biāo)：1、具有信號(hào)采集、計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理、圖形顯示、保存等功能；2、具有定點(diǎn)尺寸繼電器報(bào)警輸出；3、測(cè)量范圍：0.2毫米以下；4、測(cè)量速度：300Hz；5、顯示速度：2次/秒；6、測(cè)量分辨率：0.01um；測(cè)量精度：±0.1~0.5um；7、用戶提供最大幅寬尺寸：1200毫米；8、質(zhì)保期：發(fā)貨之日起計(jì)算機(jī)一年，其余一年半。9、付款與供貨：合同簽訂后一周內(nèi)付全款的50%之后2周內(nèi)發(fā)貨，貨到付全款的30%，驗(yàn)收合格后付全款的20%。西安星悅激光紅外技術(shù)有限公司聯(lián)系人：穆兵權(quán) 13201707632電話：029-85500318 85549436傳真：029-85500318E-mail:mbqking@163.com網(wǎng)站：www.xylaser.com/mbq/index.htm

BMH-J3數(shù)顯薄膜測(cè)厚儀

一、BMH-J3數(shù)顯薄膜測(cè)厚儀主要技術(shù)指標(biāo): 測(cè)量范圍：（0-25）mm 分辨率：0.001mm 電源：氧化銀電池SR44 工作溫度：0℃～+40℃儲(chǔ)運(yùn)溫度：-20～+70℃ 相對(duì)濕度：≤80% 二、BMH-J3數(shù)顯薄膜測(cè)厚儀主要功能: 數(shù)據(jù)輸出任意位置置零公英制轉(zhuǎn)換自動(dòng)斷電

該公司產(chǎn)品分類： 水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀

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