活動范圍 :370mm x 470 mm~ 測量范圍 :100Å~ 2.5㎛ at Sub-micron size 光斑尺寸 :~ 0.2㎛ x 0.2㎛ 測量速度 :14sec./Area 應(yīng)用領(lǐng)域 :半色調(diào)測量并具有ST6000/7000的所有功能
1.具有ST6000的所有功能 2.精確圖案測量 3.自動調(diào)焦 4.電荷耦合器件照相機(jī) 5.模式識別 6.通訊接口模塊傳達(dá)方式
QUANIX4200涂鍍層測厚儀 型號:QuaNix4200 品牌:德國尼克斯產(chǎn)地:德國QuaNix4200德國尼克斯涂鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù) 零位穩(wěn)定:所有涂層測厚儀測量前都要求校準(zhǔn)零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是測量的前提。一臺好的測厚儀校零后,可以長時間保持零位不漂移,確保測量QuaNix4200德國尼克斯涂鍍層測厚儀無需校準(zhǔn):多數(shù)測厚儀除了校零外,還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測量某一范圍厚度,要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。溫度補償:涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補償技術(shù),以不同溫度下的測量精度。紅寶石探頭:探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭,其表面磨損后會帶來很大的誤差。獨特的直流采樣技術(shù):使得測量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無可比擬的和提高。詳細(xì)描述:測量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層,如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁、錫等;鋼鐵基材: 用于QUANIX4200涂鍍層測厚儀型測量范圍: 0-3000um測量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100.最小測量面積: 10x10mm最小曲率: 凸半徑 5mm凹半徑 25mm最小基材厚度:0.2mm 溫度范圍: 0-60度顯示: LCD供電形式: 2個1.5V電池體積: 100X60X27mm重量: 約110克(涂層測厚儀,鍍層測厚儀,漆膜測厚儀,薄膜測厚儀,磁性測厚儀,渦流測厚儀,油漆測厚儀,粉末涂層測厚儀)
德國菲尼克斯PHYNIX Surfix SX涂層測厚儀
德國菲尼克斯PHYNIX Surfix SX-N1.5 分體涂層測厚儀
N型渦流原理:測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層,如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。
這款德國PHYNIX涂層測厚儀配有彩色顯示屏,更好的內(nèi)容顯示,并包含多種語言。目前的版本含有英語,德語,法語,意大利語,西班牙語,土耳其語,捷克語以及中文。
相對于Surfix系列,此系列的內(nèi)存也提高了很多,可以存儲多達(dá)2.000的測量值。與電腦的鏈接非常簡單,是通過 USB2.0. PHYNIX.connect 實現(xiàn)的。這是一個數(shù)據(jù)傳輸程序,和所有Windows系統(tǒng)兼容, 可以使數(shù)據(jù)方便地輸進(jìn)Excel。此系列有兩種產(chǎn)品: Surfix® SX 可以連接所有PHYNIX探頭,使得儀器可以滿足很多測量任務(wù)。Surfix® EX 帶有固定標(biāo)準(zhǔn)探頭,適合任務(wù)明確的測量。和Surfix® SX 配有可拔插探頭相比,它易操作,更經(jīng)濟(jì)。
我們的Surfix®X測量儀用于以下領(lǐng)域:
電鍍行業(yè),噴涂行業(yè),汽車行業(yè),化學(xué)工業(yè),航空航天工程,造船業(yè),研究實驗室和大學(xué),車間,顧問和評估員
我們的所有測量探頭均配備碳化鎢硬質(zhì)合金耐磨測芯,提高了探頭耐磨性和使用壽命。
產(chǎn)品特點:
創(chuàng)新且用戶友好的測量技術(shù)
高分辨率彩色圖形顯示
USB接口
自動識別基材
數(shù)據(jù)存儲器,最多2,000個測量值
在線統(tǒng)計
直觀的菜單指導(dǎo)
在高達(dá)150°C或300°C的高溫表面上進(jìn)行測量(選購)
制造商的測試證書
規(guī)格參數(shù)
測量原理 | 電渦流 |
功能 | 測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層,如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。 |
測量范圍 | 0~1500μm |
誤差范圍 | ±(1μm+1%) |
分辨率 | 0.1μm |
探頭 | N1.5 |
探頭尺寸 | Ø14mm x 83 mm |
探頭重量 | 70g |
校準(zhǔn)模式 | 工作校準(zhǔn),零校準(zhǔn),單箔校準(zhǔn); 零偏移 |
統(tǒng)計功能 | 測量值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,最小值,最大值 |
數(shù)據(jù)接口 | USB2.0 |
數(shù)據(jù)存儲 | 2000個測量值 |
滿足標(biāo)準(zhǔn) | DIN,ISO,ASTM,BS |
系統(tǒng)語言 | 英語,德語,法語,意大利語,西班牙語,土耳其語,捷克語以及中文 |
顯示屏幕 | 高分辨率彩色顯示屏 |
工作溫度 | 0~50℃ |
防護(hù)等級 | IP52 |
整機(jī)尺寸 | 137*66*23mm |
包裝清單
名稱 | 型號 | 清單 |
涂層測厚儀 | Surfix SX-N1.5 | 主機(jī)、N1.5探頭、橡膠防護(hù)套、校準(zhǔn)膜、零標(biāo)準(zhǔn)片、2 節(jié)AA電池、PHYNIX.connect 傳輸軟件、使用手冊、制造商證書、包裝箱 |
產(chǎn)品簡介
美國Oakland公司生產(chǎn)的薄膜測厚儀CX-1000基于電容法則,使用被測樣品作為不導(dǎo)電介質(zhì)。當(dāng)被測樣品被傳送通過傳感器時,儀器能測出細(xì)微的厚度變化并記錄下來,兼具良好的精度和重復(fù)性。 優(yōu)點一覽: ■的穩(wěn)定性 擁有專利技術(shù)的傳感器和電子設(shè)計能降低溫度和濕度波動導(dǎo)致的測量值漂移。 ■良好的精度和重復(fù)性 的機(jī)械和電子設(shè)計確保了儀器的精度。 ■簡單易用 直觀的鍵盤和數(shù)字顯示,減少了誤操作的可能。 ■豐富的擴(kuò)展功能 可選配圖表記錄儀,打印機(jī),電腦和專門的軟件以對測量結(jié)果進(jìn)行打印,統(tǒng)計和圖表分析。 儀器特性: ■可選擇功能擴(kuò)展 ■直觀的鍵盤式數(shù)據(jù)輸入和數(shù)字顯示 ■校準(zhǔn)簡單 ■英制或公制顯示 ■可設(shè)置參數(shù)包括厚度單位,傳送速度,長度單位和目標(biāo) ■數(shù)據(jù)存儲和恢復(fù)校準(zhǔn)/參數(shù)設(shè)置功能 ■可顯示平均厚度,標(biāo)準(zhǔn)方差,高/低測量值和位置,測量范圍和樣品長度 ■客戶定制的測試報告 ■可調(diào)樣品傳送速度 ■可設(shè)置參數(shù)包括防止折皺,上/下限和重要參數(shù)顯示 ■可顯示百分比/偏差/百分比-偏差,用以表示高/低測量值/范圍/平均值與目標(biāo)值的比較 ■模擬輸出端口,用于連接圖表記錄儀 ■并口輸出,用于連接打印機(jī) ■RS-232端口,用于連接電腦
薄膜測厚儀CX-1000技術(shù)參數(shù)和規(guī)格
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產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: CX-1000 |
MC-3000A涂層測厚儀可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。
該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
主要性能:
基本測量模式:常規(guī)模式,最小值模式,統(tǒng)計模式。
監(jiān)控測量模式:可進(jìn)行差值設(shè)置,上下限報警設(shè)置。
可選擇刪除單個存儲數(shù)據(jù),或者某一組數(shù)據(jù)或者清除全部數(shù)據(jù)。
可進(jìn)行零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)。
可設(shè)置關(guān)機(jī)方式,背光開或閉,恢復(fù)出廠狀態(tài)。
可打印存儲值,也可打印統(tǒng)計值。
分組存儲數(shù)據(jù)共6組,每組存99個測量點。
可分組查看存儲測量值。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍:MC-3000A 0~1200um
顯示精度:0.1 um
欠電壓顯示:左上角顯示"欠"
顯示方式:3位液晶數(shù)字顯示*
尺寸/重量:146*81*30mm 260克
標(biāo)準(zhǔn)配置:主機(jī)、探頭、標(biāo)準(zhǔn)樣片、說明書、保修卡、合格證、五號電池、手提箱。
可選附件:打印機(jī)及通訊打印連線、微機(jī)通訊軟件、內(nèi)防腐探頭
F20-XT經(jīng)濟(jì)型高級膜厚測試儀 主要用于測試各種透明半透明的膜厚.
產(chǎn)品簡介:
1 是在F20-NIR的基礎(chǔ)上專為測試厚膜而設(shè)計的,波長范圍從1200nm到1450nm,在NIR波長分辨率為 0.5nm; 2 薄膜厚度的測量范圍是:0.2~ 450um(低光學(xué)參數(shù)薄膜),0.1~160um(Si及其它半導(dǎo)體),精度都好于0.4%。
應(yīng)用領(lǐng)域 :
1 微機(jī)電系統(tǒng)MEMS; 2 絕緣體上硅SOI; 3 倒裝芯片F(xiàn)lip Chips; 4 厚聚合物
目前,我司已與一些著名的生產(chǎn)和研究單位建立了良好的業(yè)務(wù)關(guān)系;同時,也已與歐、美等地區(qū)的半導(dǎo)體生產(chǎn)廠商及有關(guān)機(jī)構(gòu)也建立起了良好的合作伙伴關(guān)系。
聯(lián)系人: 馮先生手機(jī):139-1145-7960Email:bf711@befirst-tech.comWebSite:www.befirst-tech.com
如果有任何關(guān)于設(shè)備或者技術(shù)的疑問歡迎電話或Email給我,合作愉快!