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白光干涉膜厚儀車燈測厚儀 FTMLite

技術特點

光學方法，非接觸、無損測量，安全無輻射。

快速膜厚分析，只需幾毫秒即可獲得測量結果

膜厚測量范圍 0.1 - 150 微米（ 0.004 to 6 mil ）

極高的分析準確度，在整個厚度測量范圍內偏差小于0.005微米

可同時分析計算兩層膜厚

可同時支持實驗室離線分析或者在線生產分析

主要用于

全球主要的汽車燈以及CD生產商進行有機膜厚測試。

該公司產品分類： X射線熒光測厚儀白光干涉測厚儀輪廓儀電磁/電渦流測厚儀掃描電鏡（SEM）光電直讀光譜儀渦流探傷儀超聲波探傷儀 X-Strata920 TranSpec FTM-Mirco FTM-Lite 便攜式涂鍍層測厚儀掃描電鏡 XRF元素分析儀手持式XRF光譜儀實驗室模擬洗車系統(tǒng) 白光干涉膜厚儀 NVM6000P Nano view 3000

2000B超聲波測厚儀2000B型超聲波測厚儀測量范圍：1.0～199.9mm，顯示精度：0.1mm，該儀器是利用單片機技術，采用定制的液晶，字體清晰美觀，人機對話采用當今流行的薄膜面板，具有體形小，容易操作，攜帶方便，是鍋爐、高壓容器、儲罐、管道等理想的厚度測量工具。2000B型超聲波測厚儀配置單 1、2000B型主機 1臺2、探頭（Φ8） 1支3、耦合劑 1瓶4、階梯試塊 1塊5、五號1.5 V 電池 2節(jié) 6、使用說明書 1份7、保修卡合格證 1份8、小鋁箱 1個9、選配件：高溫、鑄鐵、小管徑探頭2000B超聲波測厚儀產品性能1、超聲波測厚儀測量范圍：1.0～199.9mm2、顯示精度：0.1mm3、誤差：1%*厚度值±0.1mm4、探頭頻率：5MHz5、電源：一節(jié)5號電池6、耦合指示：被測件與探頭耦合良好時，顯示“▲”7、外形尺寸：125*26*60mm8、重量：220克9、使用環(huán)境：溫度-10～60度,相對濕度 <90%10、低電壓指示：紅燈亮上海魯碩實業(yè)有限公司無損檢測滲透探傷：滲透劑、清洗劑、顯像劑、滲透試塊、核級探傷劑磁粉探傷：黑磁粉、白磁粉、紅磁粉、復合熒光磁粉、磁場指示器、磁場強度計、熒光磁懸液、黑水磁懸液、黑油磁懸液、磁粉靈敏度試片、紫外線燈、磁粉探傷儀超聲探傷：超聲波耦合劑、高溫耦合劑、超聲波試塊、超聲波測厚儀、超聲波探傷儀射線探傷：鉛字、暗袋、洗片架、恒溫洗片機、膠片干燥箱、代理品牌：美國SP、美國磁通、美國路陽、日本碼克泰科、美國GE、奧林巴斯、上海新美達

該公司產品分類：混合器磁力攪拌器勻漿機涂層測厚儀看譜鏡電火花檢漏儀其他儀器及附件氣體檢測儀大氣壓力計噪音計風速計/風速儀除濕機超聲波清洗機培養(yǎng)箱試驗箱離心機真空泵恒流泵粘度計蒸餾水器

4200/4500涂層測厚儀

儀器用于精確測量圖層（鍍層）厚度。測量時只需調零，無需校準。

主要技術參數(shù)：

1.測量范圍：0-3000μm

2.測量精度：0-50μm≤±1μm 50-1000μm≤±1.5%

1000-2000μm≤±2% 2000-3000μm≤±3%

外形尺寸：100*60*27mm

20001IS——726E-004測厚儀,便攜式,手提式測厚儀

測厚儀<


測厚儀 20012IS 分度值 0.01 mm 測量范圍 0 – 10 mm 弓形架深度 50 mm 誤差極限 15 μm	測厚儀 20093IS 分度值 0.01 mm 測量范圍 0 – 0.5 mm 弓形架深度 50 mm 界面 RS 232 誤差極限 5 μm	測厚儀 20009IS 分度值 0.01 mm 測量范圍 0 – 10 mm 弓形架深度 18mm 誤差極限 15 μm

測厚儀技術參數(shù)

型號	分度值 mm	量程 mm	頸深 mm	提升器	測量頭形狀
型號	分度值 mm	量程 mm	頸深 mm	提升器	標準型	可選，非標準型
20001IS	0,1	10	15	無	6,35 mm Φ 平頭	10 mm Φ 平頭,凸起或球形
20045IS	0,1	20	50	無	6,35 mm Φ 平頭	10 mm Φ 平頭,凸起或球形
20002IS	0,1	10	15	無	c	a, b, d 或 e
20066IS	0,1	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20003IS	0,1	20	50	無	c	a, b, d 或 e
20004IS	0,1	30	50	無	c	a, b, d 或 e
20043IS	0,1	50	50	無	c	a, b, d 或 e
20005IS	0,1	30	100	無	c	a, b, d 或 e
20006IS	0,1	30	200	有	c	a, b, d 或 e
20007IS	0,1	30	300	有	c	a, b, d 或 e
20008IS	0,1	30	400	有	c	a, b, d 或 e
20042IS	0,01	8	12	有	6,35 mm Φ 平頭	球形
20009IS	0,01	10	18	有	6,35 mm Φ 平頭	10 mm Φ平頭, 凸起或球形
20011IS	0,01	10	45	有	6,35 mm Φ 平頭	10 mm Φ平頭, 凸起或球形
20012IS	0,01	10	50	無	c	a, b, d 或 e
20067IS	0,01	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20048IS	0,01	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20099IS	0,01	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20015IS	0,01	30	50	無	c	a, b, d 或 e
20076IS	0,01	30	50	有	c	a, b, d 或 e
20087IS	0,01	25	50	有	c	a, b, d 或 e
20013IS	0,01	5	50	有	滾子測頭
20038IS	0,01	5	50	有	滾子測頭，無側面夾合墊片
20086IS	0,01	10	50	有	滾子測頭
20098IS	0,01	10	50	有	滾子測頭，無側面夾合墊片
20039IS	0,01	10	50	有	適合測量管壁
20049IS	0,01	10	50	有	適合測量管壁
20055IS	0,01	20	50	有	適合測量波紋
20014IS	0,01	10	100	有	c	a, b, d 或 e
20051IS	0,01	10	100	有	c	a, b, d 或 e
20079IS	0,01	30	100	有	c	a, b, d 或 e
20089IS	0,01	25	100	有	c	a, b, d 或 e
20017IS	0,01	10	200	有	c	a, b, d 或 e
20052IS	0,01	10	200	有	c	a, b, d 或 e
20018IS	0,01	30	200	有	c	a, b, d 或 e
20046IS	0,01	25	200	有	c	a, b, d 或 e
20019IS	0,01	10	300	有	c	a, b, d 或 e
20053IS	0,01	10	300	有	c	a, b, d 或 e
20083IS	0,001	1	30	有	6,35 mm Φ 平頭	上測量頭為半球形
20084IS	0,001	1	30	有	6,35 mm Φ 平頭	上測量頭為半球形 R15
						上測量頭為半球形 R 40
						平頭 10 mm Φ 球形
						下測量頭為半球形 R 15
20080IS	0,001	5	50	有	c	a, b, d 或 e
20054IS	0,001	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20093IS	0,001	25	50	有	c	a, b, d 或 e
20095IS	0,001	25	100	有	c	a, b, d 或 e
20047IS	0,001	25	200	有	c	a, b, d 或 e

CORDIX 快速測厚儀

CORDIX 快速測厚儀	CORDIX 快速測厚儀	CORDIX 快速測厚儀
快速測厚儀因其測量范圍和測量深度廣泛、測頭形式多等優(yōu)點，在生產中得到了廣泛應用。由特殊輕金屬合金制作而成的高剛性構架，使操作更為簡便并且適應長時間測量。測頭和指示表殼具有防腐性。SERIE 3000的直角測桿可以最大限度的減小擺動對于測量的影響，尤其是可以避免扭轉對測量帶來的干擾。應用時，請注意正確選擇測量儀的測量深度（T）、測量范圍（B）和測頭（F）

CORDIX 快速測厚儀參數(shù)表:

SERIE 3000	1/10mm		[F]=測頭形式
型號	測量范圍[B]=mm	測量深度[T]=mm
型號	測量范圍[B]=mm	測量深度[T]=mm	a	b		c	d	e	f	h	i
726M-001	0-10	15		●*
726M-002	0-25	30	●	●		●	●	〇	〇
726M-003	0-30	50	●	●		●	●	〇	〇
726M-004										●	●
726M-005		150	●	●		●	●	〇	〇
726M-006		275	●	●		●	●	〇	〇
726M-007		420	●	●		●	●	〇	〇
726M-008		600	●	●		●	●	〇	〇
726M-009	0-50	50	●	●		●	●	〇	〇
726M-010										●	●
726M-011		275	●	●		●	●	〇	〇
726M-012	30-80	50	●	●		●	●	〇	〇
SERIE	1/100mm		注： ●標準測頭；〇特殊測頭
726M-013	帶偏差表 0-10	50	●		●	●	●
726M-014		50	●		●	●	●
726M-015		150	●		●	●	●
726M-016		275	●		●	●	●
726E-001	帶數(shù)顯表 0-10	50	●		●	●	●
726E-002		50	●		●	●	●
726E-003		150	●		●	●	●
726E-004		275	●		●	●	●

注：CORDIX快速測厚儀要定期依據(jù). DIN ISO 9000 ff標準進行重新校準；請尋求. KORDT提供校準服務。我們根據(jù)要求提供帶質量證書的檢具并提供定期的校準。

詳情請咨詢北京伊斯來福電話：陳先生,郵箱:islive@islive.com.cn，或者訪問產品詳情頁面測厚儀,便攜式,手提式測厚儀

該公司產品分類：量儀

CMI233（CMI200測厚儀系列）連線探頭涂層測厚儀/膜厚儀

CMI 233連線探頭涂層測厚儀/膜厚儀品牌：OXFORD CMI（英國牛津）

簡介：

□性價比優(yōu)勢：同類進口產品中具有很高的價格性能比

□探頭：配備有世界上秀的檢測探頭

□測量精度：1%或±0.1μm依照參考標準片，分辨率：0.1μm

□測量范圍：磁感應0-120mils（0-3.05mm）；渦流0-60mils（0-1.52mm）產品介紹訂購編號：20706 CMI233（單探頭） / 20707 CMI233（雙探頭）

用途：廣泛應用于噴涂電鍍、涂料涂裝、汽車、石化管道、造船、電器、防腐等行業(yè)中的表面涂層及各種薄膜厚度的測量

CMI 200型測厚儀是高科技電子技術和軟件的組合，多功能、耐用的設計，專為適應最惡劣的工作環(huán)境而制造，典型應用于表面處理工業(yè)。

CMI 200以經(jīng)濟的價格為您提供對涂鍍層厚度的、的監(jiān)控。

應用范圍：

•磁性基材上的非磁性涂層，例如鋼或鐵上的鋅、鉻、鎘、錫、銅、聚四氟乙烯、環(huán)氧樹脂、油漆、粉末涂料等涂層

•導電基材上的非導電性涂層，例如銅或鋁上的陽極電鍍、油漆、琺瑯/瓷釉、粉末涂料、環(huán)氧化物等涂層。

●測量方法：磁感應或渦流式

●測量精度：1%±0.1μm依照參考標準片

●測量范圍：磁感應0-120mils（0-3.05mm）；渦流0-60mils（0-1.52mm）

●分辨率：0.1μm

●最小曲率半徑 5mm（凸）；25mm（凹）

●最小測量面積 φ20mm

●最小基體厚度 0.35mm

●適用標準：磁感應遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 ａnd BS 5411 PART9&11有關規(guī)定。渦流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 ａnd BS 5411 PART3有關規(guī)定

●存儲量：12，400條讀數(shù)

●低鐵和無鐵層厚度：12 mils（305μm）

●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含電池）

●單位：英制和公制，可轉換

●電池：9伏干電池或充電電池

●統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標準差，值，值，由打印機或連續(xù)輸出支持的直方圖和CPK圖

●接口：RS-232串行輸出端口

●顯示：1/2英寸背光液晶顯示屏

●鍵區(qū)：密封膜�；�-9鍵；增強-16鍵

●掃描特征：在指定掃描時間內自動平均讀數(shù)（或可提供實際高低值）

●品牌及產地：英國牛津儀器；產地：美國

涂層測厚儀/涂鍍層測厚儀是本公司主打銷售產品之一，我們是牛津測厚儀中國一級代理，專業(yè)提供涂層測厚儀品牌、涂層測厚儀行情、涂層測厚儀參數(shù)、涂層測厚儀應用、涂層測厚儀維修、涂層測厚儀保養(yǎng)、涂層測厚儀報價、涂層測厚儀售后服務等涂層測厚儀各種問題

該公司產品分類：日本孔雀電線電纜通用土工布纖維紗線印染織物服裝強力儀丨強力機實驗儀器自動滴液系統(tǒng) 檢針機手持式臺式皮帶式日本柯尼卡美能達KONICA MINOLTA 蒙賽爾國產美國愛色麗X-RITE 日本柯尼卡美能達KONICA MINOLTA 分光測色儀色彩色差計密度儀分光光度計放大鏡顯微鏡臺灣泰仕

數(shù)顯手持測厚儀價格：優(yōu)惠，歡迎來電咨詢！

產品用途及適用范圍：適用行業(yè)：紡織布料、薄膜、紙張等物品的厚度測量，加長型測臂具有更大的測量深度。

數(shù)顯手持測厚儀技術參數(shù)：

測量范圍：（0-25）mm

分辨率：0.001mm

電源：氧化銀電池SR44

工作溫度：0℃～+40℃

儲運溫度：-20～+70℃℃

相對濕度：≤80%

數(shù)顯手持測厚儀國家標準：

數(shù)顯手持測厚儀關鍵字：測厚儀，數(shù)顯手持測厚儀，手持測厚儀，厚度測試儀，厚度檢測儀，厚度試驗儀，厚度測量儀，千分精度測厚儀

EM22EM22 自動橢圓偏振測厚儀

EM22自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。

EM22儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。

EM22儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數(shù)k。

特點

經(jīng)典消光法橢偏測量原理

儀器采用消光法橢偏測量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。

方便安全的樣品水平放置方式

采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。

緊湊的一體化結構

集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便使用。

高準確性的激光光源

采用激光作為探測光波，測量波長準確度高。

豐富實用的樣品測量功能

可測量納米薄膜的膜厚和折射率；塊狀材料的復折射率、樣品反射率、樣品透過率。

便捷的自動化操作

儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準等操作。

安全的用戶使用權限管理

軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、操作者等模式），便于儀器管理和使用。

可擴展的儀器功能

利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。

應用

EM22適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。

EM22可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。

技術指標

項目	技術指標
儀器型號	EM22
測量方式	自動測量
樣品放置方式	水平放置
光源	He-Ne激光器，波長632.8nm
膜厚測量重復性^*	0.5nm （對于Si基底上100nm的SiO₂膜層）
膜厚范圍	透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質相關
折射率范圍	1.3 – 10
探測光束直徑	Φ2-3mm
入射角度	30°-90°，精度0.05°
偏振器方位角讀數(shù)范圍		偏振器步進角	樣品方位調整	Z軸高度調節(jié)：16mm 二維俯仰調節(jié)：±4°
允許樣品尺寸	樣品直徑可達Φ160mm
配套軟件	* 用戶權限設置 * 多種測量模式選擇 * 多個測量項目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計算、輸入輸出
最大外形尺寸	約400400250mm
儀器重量（凈重）	約20Kg
選配件	* 半導體激光器

注：（1）測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量30次所計算的標準差。

性能保證

ISO9001國際質量體系下的儀器質量保證
專業(yè)的橢偏測量原理課程
專業(yè)的儀器使用培訓

該公司產品分類：在線橢偏儀激光橢偏儀光譜橢偏儀

防水卷材測厚儀（冀路試驗儀器廠）

防水卷材測厚儀（冀路試驗儀器廠）我廠生產的WHT-10型防水卷材測厚儀是根據(jù)GBl8242-2000及GBl8243-2000標準要求專為防水卷材厚度測量而設計制造�？呻S身攜帶，手持測量。

主要技術參數(shù)：1、測量范圍：0-10mm2、上測直徑：Φ10±0.05m3、分度值：0.01mm4、施加壓力：0.02MPa

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白光干涉膜厚儀車燈測厚儀 FTMLite

2000B超聲波測厚儀

4200/4500涂層測厚儀

20001IS——726E-004測厚儀,便攜式,手提式測厚儀

CMI233（CMI200測厚儀系列）連線探頭涂層測厚儀/膜厚儀

BMH-J3數(shù)顯薄膜測厚儀

JMR-C10多能測厚儀

ZHD-01 測厚儀ZHD-01 測厚儀

EM22EM22 自動橢圓偏振測厚儀

防水卷材測厚儀（冀路試驗儀器廠）

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