T-SCAN 300 & 300DL 測(cè)厚儀 |
T-SCAN 300 & 300DL測(cè)厚儀 手持超聲測(cè)厚儀——同時(shí)檢測(cè)出基體材料&涂層的厚度!!! 不同于其他的測(cè)厚儀,英銀翼公司的測(cè)厚儀——T-scan 300 能夠同時(shí)檢測(cè)涂層及基體材料的厚度。 測(cè)厚儀的軟件使得檢測(cè)結(jié)果以兩種模式顯示:直接數(shù)字顯示;檢測(cè)部位的B掃描圖像顯示。 T-scan 300DL除具有與The T-scan 300相同的功能之外,還具有存儲(chǔ)功能,32MB內(nèi)存可以存儲(chǔ)210,000個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)(柵格顯示或連續(xù)顯示),或存儲(chǔ)16,000組B掃描圖像(包括圖像的設(shè)置)。 特征: · 測(cè)量模式 · 脈沖回波 · 脈沖回波及溫度補(bǔ)償 · 脈沖回波及涂層 · 回波-回波 · 涂層 自動(dòng): · 探頭歸零 · 探頭識(shí)別 · 溫度補(bǔ)償 · 增益控制 · 高低門檻的聲光報(bào)警 · 材料橫截面積的B掃描圖像 · 可存儲(chǔ)210 000組數(shù)據(jù) · 包含Windows PC軟件 幾何參數(shù): · 重量:13.5 盎司 / 383 克 · 尺寸: 2.5 W x 6.5 H x 1.24 D inches 63.5 W x 165 H x 31.5 D mm · 操作溫度: 14 to 140F (-10 to 60C) · 外殼: 鋁金屬外殼,鍍鎳層 · 鍵盤: 12個(gè)觸摸鍵盤 · 數(shù)據(jù)導(dǎo)出: 雙向RS232串口,Windows® PC界面 · 顯示: 1/8in VGA灰度顯示(240 x 160 pixels) 可視區(qū)域: 2.4 x 1.8in (62 x 45.7mm) 可背光顯示 ※ 超聲規(guī)格 · 測(cè)量模式: Coating Off: 脈沖回波 (P-E) Coating On: 脈沖回波涂層 (PECT) Temp Comp: 脈沖回波溫度補(bǔ)償(PETP) · 穿透涂層: Echo-Echo (E-E) · 涂層模式: Coating (CT) · 脈沖發(fā)生器: 雙方波脈沖發(fā)生器 · 接收器: 雙接收器 – 110dB范圍內(nèi)的手動(dòng)或AGC增益控制 ※ 電源 3節(jié)1.5V鉛酸電池或1.2V鎳鎘AA電池 使用時(shí)間:鉛酸電池 150小時(shí) 鎳鎘AA電池 100小時(shí) 閑置5分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī) 電池狀態(tài)顯示 ※ 檢測(cè) 范圍: 脈沖回波模式(P-E) - (Pit & Flaw Detection) ,測(cè)量范圍0.025 to 19.999 inches (0.63 to 508 mm) 脈沖回波涂層模式(PECT) –(材料,涂層,凹坑&腐蝕檢測(cè)):材料: 0.025 to 19.999 in (0.63 to 508mm). 涂層: 0.001 to 0.100 in (0.01 to 2.54mm) 脈沖回波溫度補(bǔ)償模式(PETP)- (凹坑&腐蝕檢測(cè)): 自動(dòng)溫度補(bǔ)償,量程0.025 to 19.999in (0.63 to 508mm) 回波-回波模式(E-E)-(穿過涂層) 測(cè)量范圍0.100 to 4.0in (2.54 to 102mm),量程根據(jù)涂層有不同。 涂層模式(CT)-(涂層厚度) 測(cè)量范圍0.0005 to 0.100in (0.0127 to 2.54mm),量程根據(jù)涂層有不同。 精度: +/- 0.001in (0.01mm) 聲速: 0.0492 to 0.5510in/ms 1250 to 13995 meters/second · 基體材料&涂層單點(diǎn)/雙點(diǎn)標(biāo)定選項(xiàng) · 基體材料的選擇 · 單位: 英制 & 公制 ※ 測(cè)量 大數(shù)字顯示—標(biāo)準(zhǔn)厚度視圖;數(shù)字高度:0.700 inches (17.78 millimeters),B-Scan—時(shí)基橫截面視圖,每屏顯示速度15secs,掃描條厚度-每秒6次。B-Scan及大數(shù)字顯示模式下可見。 條形圖的可重復(fù)性—條形圖顯示讀數(shù)的穩(wěn)定性 特征狀態(tài)欄— 顯示激活的狀態(tài) 數(shù)據(jù)記錄功能:T-scan 300DL 記錄模式: 柵格 (數(shù)字編號(hào)) 連續(xù) (自動(dòng)標(biāo)示) 儲(chǔ)存量: Graphics On: 16,000 個(gè)結(jié)果,為每次讀數(shù)B掃描圖像&標(biāo)尺設(shè)置 Graphics Off: 210,000 個(gè)結(jié)果(涂層, 基體材料, min & max) OBSTRUCT: 顯示達(dá)不到的區(qū)域 內(nèi)存: 32 M內(nèi)存 探頭: 探頭類型: 雙晶 (1 to 10 MHz) 快速連接的LEMO接頭 標(biāo)配4M長(zhǎng)電纜線 可根據(jù)特定需要定制探頭和探頭線 標(biāo)定:廠家標(biāo)定,滿足際標(biāo)準(zhǔn) |
產(chǎn)品說明 | |
測(cè)量對(duì)象: 單金屬鍍層:(Cu Zn、Ni、Ag、Sn、Cr等) 合金鍍層(Pb-Sn、Cr-Zn、Zn-Ni、Ni-P等); 復(fù)合鍍層(Cu+Ni+Cr/Fe等); 多線鍍層(需配用電位記錄儀,如與PC電腦連接則不需記錄儀); 顯著特點(diǎn): 一機(jī)多用!ZD-B智能電解厚儀+PC電腦=ZD-B智能電解測(cè)厚儀+ZD-B型多線鍍層度-電位測(cè)定儀。 |
SM-112測(cè)厚儀
原理:在一定的面積與一定荷重下,測(cè)量出的物件厚度。指針式測(cè)厚規(guī)可以作為物品檢測(cè)時(shí)的基礎(chǔ)測(cè)量。
技術(shù)參數(shù):
指式方式:指針式
測(cè)量范圍:0-10mm
最小讀數(shù):0.01mm
測(cè)量深度:26mm
體積大。(W*D*H)87*23*105mm
重量:150g
儀器介紹
Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào):Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。 一次可同時(shí)分析最多24個(gè)元素,五層鍍層。分析檢出限可達(dá)2ppm,最薄可測(cè)試0.005μm。分析含量一般為2ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測(cè)器。信號(hào)檢測(cè)電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域金屬鍍層的厚度測(cè)量
電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
Leeb332
測(cè)量范圍 0.75~300mm(鋼,由探頭決定)
顯示分辨率 0.01mm
聲速范圍 1000~9999m/s
表面溫度 -10~60℃
示值誤差 ±(1%H+0.1)mm,H為被測(cè)物實(shí)際厚度
電源 AA型堿性電池(2節(jié))
外殼 金屬外殼
操作時(shí)間 約200小時(shí)
外形尺寸 130×70×25mm
重量 約0.2kg(主機(jī))
標(biāo)準(zhǔn)配置 主機(jī)、L51探頭、AA型堿性電池、耦合劑
可選配 探頭、耦合劑
產(chǎn)品特點(diǎn):可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)。可對(duì)測(cè)頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)。設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)?纱尜A和統(tǒng)計(jì)計(jì)算15個(gè)測(cè)量值。具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)。具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量。 操作過程有蜂鳴聲提示。有欠壓指示功能。有背光選擇。
儀器簡(jiǎn)介:德國(guó)QNix4200和QNix4500這兩種型號(hào)涂層測(cè)厚儀一體化/分體化設(shè)計(jì),只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn),使用極其簡(jiǎn)單。其中QNix4200為磁性測(cè)厚儀,可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層;QNix4500為磁性和渦流兩用測(cè)厚儀,不僅可以用來(lái)測(cè)量鋼鐵等磁性基體,還可以用來(lái)測(cè)量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個(gè)型號(hào)操作簡(jiǎn)單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛。
在傳統(tǒng)QNix® 4500基礎(chǔ)上,為了滿足客戶不同的需要,特推出QNix® 4500(分體式)機(jī),探頭和主機(jī)之間通過一根探頭線連接起來(lái),可以滿足特定測(cè)量環(huán)境(比如狹小空間)的需要,測(cè)量更方便,使用更人性化,性價(jià)比更高!
為了迎合用戶需要,還推出QNix® 4500(大量程)機(jī),使在鐵基測(cè)量模式下量程可擴(kuò)大到5mm。
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):◆只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn)◆體積小巧,操作方便◆一機(jī)雙用,自動(dòng)識(shí)別基體◆精度高◆價(jià)格便宜
QNix® 4500(分體式)介紹:◆簡(jiǎn)單快速測(cè)量◆不需要校準(zhǔn)◆自動(dòng)開關(guān)機(jī)◆大量程FE:0-5000um NFE:0-3000um◆雙用探頭,性價(jià)比高◆霍爾傳感器讓測(cè)量更穩(wěn)定◆測(cè)量時(shí)聲音同步◆紅寶石耐磨頭,壽命長(zhǎng)◆背光LED顯示,讀數(shù)更加清晰◆自動(dòng)識(shí)別測(cè)量基體◆分體式探頭,滿足不同的測(cè)量環(huán)境
技術(shù)參數(shù) | |
磁性基體(Fe模式) | QNix4200/4500均有此功能 |
非磁性基體(NFe模式) | QNix4500有此功能 |
測(cè)量范圍 | QN4200:Fe:0-3000um |
QNIX4500:Fe:0-3000um;NFe:0-3000um QNIX4500(5mm型):Fe:0-5000um;NFe:0-3000um QNIX4500(分體型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um | |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) | |
1000-3000um≤±3%讀數(shù) | |
最小接觸面 | 10×10mm/QNix4500 |
最小曲率半徑 | 凸面:3mm;凹面:25mm |
最小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補(bǔ)償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
傳感器探頭 | 鐵磁性 | 非鐵磁性 |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 |
測(cè)量范圍 | 0~1250um | 0~1250um |
0~49.21mil | 0~49.21mils | |
誤差 | 0~850 um (+/- 3%+1um) | 0~850 um(+/- 3%+1.5um) |
(相對(duì)當(dāng)前讀數(shù)) | 850um~1250um (+/- 5%) | 850um~1250 um (+/- 5%) |
0~33.46 mils (+/- 3%+0.039mils) | 0~33.46mils (+/- 3%+0.059mils) | |
33.46um~49.21mils (+/- 5%) | 33.46um~49.21mils (+/- 5%) | |
精度 | 0~50um (0.1um) | 0~50um (0.1um) |
50um~850um(1um) | 50um~850um(1um) | |
850um~1250um(0.01mm) | 850um~1250um(0.01mm) | |
0~1.968mils (0.001mils) | 0~1.968mils (0.001mils) | |
1.968mils~33.46mils(0.01mils) | 1.968mils~33.46mils(0.01mils) | |
33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
HQT-IA 微電腦多功能電解測(cè)厚儀 特性表 | |||||||
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